- O repozytorium
- Kolekcje
- Indeksy
- Historia przeglądania
-
Repozytoria RCIN
-
INSTYTUT ARCHEOLOGII I ETNOLOGII POLSKIEJ AKADEMII NAUK
-
INSTYTUT BADAŃ LITERACKICH POLSKIEJ AKADEMII NAUK
-
INSTYTUT BADAWCZY LEŚNICTWA
-
INSTYTUT BIOLOGII DOŚWIADCZALNEJ IM. MARCELEGO NENCKIEGO POLSKIEJ AKADEMII NAUK
-
INSTYTUT BIOLOGII SSAKÓW POLSKIEJ AKADEMII NAUK
-
INSTYTUT CHEMII FIZYCZNEJ PAN
-
INSTYTUT CHEMII ORGANICZNEJ PAN
-
INSTYTUT FILOZOFII I SOCJOLOGII PAN
-
INSTYTUT GEOGRAFII I PRZESTRZENNEGO ZAGOSPODAROWANIA PAN
-
INSTYTUT HISTORII im. TADEUSZA MANTEUFFLA POLSKIEJ AKADEMII NAUK
-
INSTYTUT JĘZYKA POLSKIEGO POLSKIEJ AKADEMII NAUK
-
INSTYTUT MATEMATYCZNY PAN
-
INSTYTUT MEDYCYNY DOŚWIADCZALNEJ I KLINICZNEJ IM.MIROSŁAWA MOSSAKOWSKIEGO POLSKIEJ AKADEMII NAUK
-
INSTYTUT PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI PAN
-
INSTYTUT SLAWISTYKI PAN
-
SIEĆ BADAWCZA ŁUKASIEWICZ - INSTYTUT TECHNOLOGII MATERIAŁÓW ELEKTRONICZNYCH
-
MUZEUM I INSTYTUT ZOOLOGII POLSKIEJ AKADEMII NAUK
-
INSTYTUT BADAŃ SYSTEMOWYCH PAN
-
INSTYTUT BOTANIKI IM. WŁADYSŁAWA SZAFERA POLSKIEJ AKADEMII NAUK
-
Obiekt
Tytuł: Metody pomiaru parametrów aplikacyjnych past i warstw grubych. Cz. I = Measuring methods of application parameters of pastes and thick layers. Part I
Inny tytuł:
Współtwórca:
Wydawca:
Miejsce wydania:
Opis:
65, [2} s. : il. 24 cm. ; Bibliogr. s. 63-65
Czasopismo/Seria/cykl:
Zeszyt:
Strona pocz.:
Strona końc.:
Szczegółowy typ zasobu:
Format:
Identyfikator zasobu:
Źródło:
ITME, sygn. dostępny ; kliknij tutaj, żeby przejść
Język:
Prawa:
Zasady wykorzystania:
Copyright-protected material. May be used within the limits of statutory user freedoms
Digitalizacja:
Institute of Electronic Materials Technology
Lokalizacja oryginału:
Library of the Electronic Materials Technology Institute
Dofinansowane ze środków:
Programme Innovative Economy, 2010-2014, Priority Axis 2. R&D infrastructure ; European Union. European Regional Development Fund
Dostęp:
Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:
- Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych > Kolekcje Partnerów > Sieć Badawcza Łukasiewicz – Instytut Mikroelektroniki i Fotoniki > Prace ITME
- Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych > Piśmiennictwo > Książki/Rozdziały
Data ostatniej modyfikacji:
2 paź 2020
Data dodania obiektu:
25 cze 2013
Liczba pobrań / odtworzeń:
236
Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:
https://rcin.org.pl./publication/18696
Wyświetl opis w formacie RDF:
Wyświetl opis w formacie RDFa:
Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:
| Nazwa wydania | Data |
|---|---|
| Szymański Dariusz, Metody pomiaru parametrów aplikacyjnych past i warstw grubych. Cz. I | 2 paź 2020 |
Obiekty Podobne
Szymański Dariusz
Kiełbasiński Konrad
Jakubowska Małgorzata
Kiełbasiński Konrad
