Tytuł:

Metody pomiaru parametrów aplikacyjnych past i warstw grubych. Cz. 1

Inny tytuł:

Prace ITME 1982 z. 4

Twórca:

Szymański Dariusz

Współtwórca:

Szczytko Barbara

Wydawca:

Wydaw. Przem. Masz. "WEMA"

Miejsce wydania:

Warszawa

Data wydania/powstania:

1982

Opis:

65, [2} s. : il. 24 cm. ; Bibliogr. s. 63-65

Temat i słowa kluczowe:

Materiały elektroniczne ; Elektronika - czasopismo - materiały ; pasta dielektryczna ; warstwa gruba ; test pomiarowy

Czasopismo/Seria/cykl:

Prace ITME

Zeszyt:

4

Strona pocz.:

3

Strona końc.:

65

Typ zasobu:

Tekst

Szczegółowy typ zasobu:

Artykuł

Format:

application/pdf

Źródło:

ITME, sygn. dostępny ; kliknij tutaj, żeby przejść

Język:

pol

Prawa:

Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony

Zasady wykorzystania:

Zasób chroniony prawem autorskim. Korzystanie dozwolone w zakresie określonym przez przepisy o dozwolonym użytku.

Digitalizacja:

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Lokalizacja oryginału:

Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych

Dofinansowane ze środków:

Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata 2010-2014, Priorytet 2. Infrastruktura strefy B + R ; Unia Europejska. Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego

Dostęp:

Otwarty