Mikroanaliza rentgenowska cienkich warstw = X-ray microanalysis of thin films - Digital Repository of Scientific Institutes

Skip to main menu
Skip to search engine
Skip to content
Skip to footer

Mikroanaliza rentgenowska cienkich warstw = X-ray microanalysis of thin films

Download

Title: Mikroanaliza rentgenowska cienkich warstw = X-ray microanalysis of thin films

Creator:

Sikorski Krzysztof

Date issued/created:

Resource type:

Subtitle:

Proceedings of ITME 1983 z. 8

Contributor:

Szummer Krzysztof

Publisher:

Wydaw. Przem. Masz. "WEMA"

Place of publishing:

Description:

56 s. : il. 24 cm. ; Bibliogr. s. 52-55

Relation:

Proceedings of ITME

Issue:

Start page:

End page:

Detailed Resource Type:

Format:

application/pdf

Resource Identifier:

oai:rcin.org.pl:30149

Source:

ITME, sygn. dostępny ; click here to follow the link

Language:

Rights:

Rights Reserved - Free Access

Terms of use:

Copyright-protected material. May be used within the limits of statutory user freedoms

Digitizing institution:

Institute of Electronic Materials Technology

Original in:

Library of the Electronic Materials Technology Institute

Projects co-financed by:

Programme Innovative Economy, 2010-2014, Priority Axis 2. R&D infrastructure ; European Union. European Regional Development Fund

Access:

Subject and keywords:

Electronic - journal - material Electronic materials x-ray microanalysis thin film

Object collections:

Last modified:

Oct 2, 2020

In our library since:

Jun 26, 2013

Number of object content downloads / hits:

514

All available object's versions:

https://rcin.org.pl./publication/17734

Show description in RDF format:

Show description in RDFa format:

Show description in OAI-PMH format:

PRACE ITME
- PRACE ONPMP
- PRACE ITME

Edition name	Date
Sikorski Krzysztof, Mikroanaliza rentgenowska cienkich warstw	Oct 2, 2020

Objects Similar

Metody ilościowej mikroanalizy rent5geowskiej cienkich warstw na podłożach = Correction methods in quantitative electron probe X-ray microanalysis of thin coatings

Sikorski Krzysztof

1987

Text

Badanie adhezji warstw miedziowych metodą mikroanalizy rentgenowskiej = Investigations of copper films adhesion by x-ray microanalysis

Jakubowska Małgorzata

1993

Text

Ilościowa mikroanaliza rentgenowskaiwrwiastków lekkich. Porównanie wyników metod korekcyjnych = A quantitative x-ray microanalysis of lihgt elements. Comparison of methods

Kaczyński Łukasz

1988

Text

Precyzja wyników mikroanalizy rentgenowskiej i metody jej podwyższenia = The X-ray microanalysis precision and methods of its improving

Stróż Kazimierz

1987

Text

Podstawy ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej w analitycznej mikroskopii elektronowej = Principles for quantitative X-ray micoanalysis in the analytical electron microscopy

Paduch Józef

1992

Text

Zastosowanie metody mikroanalizy rentgenowskiej do badania składu chemicznego warstw epitaksjalnych związków potrójnych grupy AIIIBV na przykładzie GA1-xAlxAs = X-ray microanalysis application for the investigation of epitaxial layer chemical composition of AIIIBV group triple compounds with the Ga1-x\alx\as as a representative of this group

Kozłowska Halina

1974

Text

Określenie koncentracji jonów Ga3+ w cienkich warstwach magnetycznych grantów = Determination of the concentration of Ga3+ jons in thin magnetic garnet films

Sarnecki Jerzy

1982

Text

Inżynieria Materiałów Elektronicznych. II Seminarium zorganizowane pod patronatem KBN 16 grudnia 1997 roku= Electronic Materials Engineering

1997

Text

More

Citation style:

iso690-author-date apa modern-language-association chicago-author-date

This page uses 'cookies'. More information