56 s. : il. 24 cm. ; Bibliogr. s. 52-55
ITME, sygn. dostępny ; kliknij tutaj, żeby przejść
Copyright-protected material. May be used within the limits of statutory user freedoms
Institute of Electronic Materials Technology
Library of the Electronic Materials Technology Institute
Programme Innovative Economy, 2010-2014, Priority Axis 2. R&D infrastructure ; European Union. European Regional Development Fund
2 paź 2020
26 cze 2013
515
https://rcin.org.pl./publication/17734
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Sikorski Krzysztof, Mikroanaliza rentgenowska cienkich warstw | 2 paź 2020 |
Sikorski Krzysztof
Jakubowska Małgorzata
Kaczyński Łukasz
Paduch Józef
Kozłowska Halina
Sarnecki Jerzy