• Przejdź do menu głównego
• Przejdź do wyszukiwarki
• Przejdź do treści
• Przejdź do stopki

• Wyszukaj w całym Repozytorium
• Piśmiennictwo i mapy
• Archeologia
• Baza Młynów
• Nauki przyrodnicze

Szukaj w Repozytorium

Pole wyszukiwania Wyszukaj

Jak wyszukiwać... Wyszukiwanie zaawansowane

Wyszukiwanie zaawansowane

Zamknij

Wszystkie pola Szukaj w treści Nazwa/Tytuł Lokalizacja geograficzna Relation Subject and Keywords

n.e. p.n.e.

n.e. p.n.e.

i lub

Nazwa/Tytuł Lokalizacja geograficzna Relation Subject and Keywords

n.e. p.n.e.

n.e. p.n.e.

Usuń

Dodaj element zapytania

Obiekt zawiera współrzędne geograficzne

Jak wyszukiwać...

Wyszukaj

Szukaj w Piśmiennictwo i mapy

Pole wyszukiwania Wyszukaj

Jak wyszukiwać... Wyszukiwanie zaawansowane

Wyszukiwanie zaawansowane

Zamknij

Wszystkie pola Szukaj w treści Tytuł Relation Autor/Twórca Subject and Keywords Publisher Data wydania/powstania Spatial coverage

n.e. p.n.e.

n.e. p.n.e.

i lub

Tytuł Relation Autor/Twórca Subject and Keywords Publisher Data wydania/powstania Spatial coverage

n.e. p.n.e.

n.e. p.n.e.

Usuń

Dodaj element zapytania

Obiekt zawiera współrzędne geograficzne

Jak wyszukiwać...

Wyszukaj

Szukaj w Archeologia

Pole wyszukiwania Wyszukaj

Jak wyszukiwać... Wyszukiwanie zaawansowane

Wyszukiwanie zaawansowane

Zamknij

Wszystkie pola Szukaj w treści Nazwa Lokalizacja Object type Research Manager/ Creator of Collection Chronology Relation Characteristics of the object- raw material Accession number

n.e. p.n.e.

n.e. p.n.e.

i lub

Nazwa Lokalizacja Object type Research Manager/ Creator of Collection Chronology Relation Characteristics of the object- raw material Accession number

n.e. p.n.e.

n.e. p.n.e.

Usuń

Dodaj element zapytania

Obiekt zawiera współrzędne geograficzne

Jak wyszukiwać...

Wyszukaj

Szukaj w Baza Młynów

Pole wyszukiwania Wyszukaj

Jak wyszukiwać... Wyszukiwanie zaawansowane

Wyszukiwanie zaawansowane

Zamknij

Wszystkie pola Szukaj w treści Nazwa ujednolicona Lokalizacja Object type

n.e. p.n.e.

n.e. p.n.e.

i lub

Nazwa ujednolicona Lokalizacja Object type

n.e. p.n.e.

n.e. p.n.e.

Usuń

Dodaj element zapytania

Obiekt zawiera współrzędne geograficzne

Jak wyszukiwać...

Wyszukaj

Szukaj w Nauki przyrodnicze

Pole wyszukiwania Wyszukaj

Jak wyszukiwać... Wyszukiwanie zaawansowane

Wyszukiwanie zaawansowane

Zamknij

Wszystkie pola Szukaj w treści Herbarium acronym Numer/kod Kategoria ponadrodzajowa Nazwa łacińska Polish name Lokalizacja Collection date Collector/ Recorded by Type

n.e. p.n.e.

n.e. p.n.e.

i lub

Herbarium acronym Numer/kod Kategoria ponadrodzajowa Nazwa łacińska Polish name Lokalizacja Collection date Collector/ Recorded by Type

n.e. p.n.e.

n.e. p.n.e.

Usuń

Dodaj element zapytania

Typ nomenklaturowy

Obiekt zawiera współrzędne geograficzne

Jak wyszukiwać...

Wyszukaj

Poproś o dostęp

Odmowa wysyłania. Niepoprawny tekst z obrazka.

Odmowa wysyłania. Weryfikacja reCAPTCHA nie powiodła się.

Nie masz uprawnień do wyświetlenia tego obiektu. Aby poprosić o dostęp do niego, wypełnij poniższe pola.

E-mail^* Uzasadnienie^*

Wpisz tekst z obrazka. ^*

Anuluj Wyślij

Obiekt

Pobierz opis bibliograficzny

• ris
• BibTeX
• EndNote
• Csv

• pl en

Zaktualizowano subskrypcję.

Błąd podczas zmiany subskrypcji.

• Pokaż treść

Pobierz

• Opis
• Informacje
• Struktura

Tytuł: Sprawozdanie z działalności Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych w roku 1998 = Activity Report of ITME in 1998

Date issued/created:

1999

Resource type:

Text

Więcej

Subtitle:

Prace ITME 1999 zeszyt specjalny.

Publisher:

ITME

Place of publishing:

Warszawa

Description:

138 s. : il. 24 cm.

Relation:

Proceedings of ITME

Issue:

zesz. specjalny

Start page:

3

End page:

138

Detailed Resource Type:

Article

Format:

application/pdf

Resource Identifier:

oai:rcin.org.pl:36023

Source:

ITME, sygn. dostępny ; kliknij tutaj, żeby przejść

Language:

pol

Rights:

Rights Reserved - Free Access

Terms of use:

Copyright-protected material. May be used within the limits of statutory user freedoms

Digitizing institution:

Institute of Electronic Materials Technology

Original in:

Library of the Electronic Materials Technology Institute

Projects co-financed by:

Programme Innovative Economy, 2010-2014, Priority Axis 2. R&D infrastructure ; European Union. European Regional Development Fund

Access:

Open

Temat i słowa kluczowe:

Electronic - journal - material Electronic materials

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

• Digital Repository of Scientific Institutes > Partners' collections > Łukasiewicz Research Network - Institute of Microelectronics and Photonics > ITME works
• Digital Repository of Scientific Institutes > Literature > Books/Chapters

Data ostatniej modyfikacji:

2 paź 2020

Data dodania obiektu:

21 lis 2013

Liczba pobrań / odtworzeń:

2184

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://rcin.org.pl./publication/19064

Wyświetl opis w formacie RDF:

RDF

Wyświetl opis w formacie RDFa:

RDFa

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

OAI-PMH

• PRACE ITME
  • PRACE ONPMP
  • PRACE ITME
    • Tomasik Edmund, Wpływ dodatku fosforu na niektóre własności fizykochemiczne i lutowwnicze eutektycznego stopu SnPb
    • Sikorski Krzysztof, Mikroanaliza rentgenowska cienkich warstw
    • Hozer Leszek, Tworzywo warystorowe na bazie ZnO - badania mikrostruktury i własnościu elektrycznych
    • Senkara Jacek, Wpływ antymonu na zjawiska powierzchniowe w procesie wytwarzania kompozytu W-CuSb
    • Wierzchowski Wojciech, Odwzorowywanie dyslokacji w krzemowych warstwach epitaksjalnych metodami odbiciowymi rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej
    • Badzian Andrzej, Syntezy wysokociśnieniowe kryształów o strukturze typu diamentu i ich struiktura atomowa w świetle badań rentgenowskich
    • Naumowicz Piotr, Defekty wzrostowe w kryształach granatu gadolinowo-galowego
    • Boniecki Marek, Analiza własności mechanicznych materiałów ceramicznych metodami mechaniki pękania
    • Korec Jacek, Modelowanie procesu epitaksji z fazy gazowej
    • Bajor Andrzej, Fotometryczna metoda pomiaru naprężeń w materiałach półprzewodnikowych
    • Taczanowski Andrzej, Helowe wykrywacze nieszczelności. Budowa i zastosowanie
    • Adamkiewicz Grażyna, Badanie naprężeń w krzemie otrzymanym metodą Czochralskiego
    • Pawłowska Marta, Badanie aktywności elektrycznej defektów strukturalnych w monokryształach półprzewodnikowych
    • Abgarowicz Ewa, Diament syntetyczny. Cz. I. Wybrane zagadnienia syntezy diamentu
    • Abgarowicz Ewa, Diament syntetyczny. Cz. II. Metody badania własności i zastosowania
    • Stróż Kazimierz, Precyzja wyników mikroanalizy rentgenowskiej i metody jej podwyższenia
    • Kłokocki Andrzej, Zastosowanie spektrometru z rozbieżną wiązką promieniowania w badaniach widm rentgenowskich
    • Hozer Leszek, Interpretacja procesu degradacji parametrów elektrycznych tworzywa warystorowego na bazie ZnO w warunkach pracy
    • Bajor Andrzej, Zastosowanie metody Muellera do analizy zjawiska dwójłomności wymuszonej mechanicznie w materiałach półprzewodnikowych
    • Pietrzak Katarzyna, Spajalność ceramiki tlenkowej typu Al2O3 z miedzią w zależności od stosowanych technik
    • Strupiński Włodzimierz, Wytwarzanie cienkich warstw fosforku galu metodą epitaksji z fazy gazowej
    • Niedbalska Alicja, Wpływ prekursora organicznego na obniżenie ciśnień zarodkowania i wzrostu kryształów diamentu
    • Gąsiorowski Zdzisław, Wytwarzanie rutenianów bizmutu i ołowiu - materiałów elektronicznych
    • Pawłowska Marta, Badanie doskonałości struktury monokryształów GaAs o obniżonej gęstości dyslokacji
    • Gładki Andrzej, Nieokreśloność w niektórych metodach ilościowej analizy metalorganicznej
    • Dulska-Wehr Anna, Analiza termodynamiczna utleniania metalui trudnotopliwych i reducji ich tlenków
    • Bugajski Maciej, Nowe technologie wytwarzania złożonych struktur półprzewodnikowych
    • Jakubowska Małgorzata, Fizykochemia spiekania przewodzącej warstwy miedziowej
    • Boniecki Marek, Rola mikrostruktury i wewnętrznych naprężeń cieplnych w zwiększeniu odporności na pękanie ceramiki na bazie Al2O3
    • Kamiński Paweł, Zastosowanie niestacjonarnej spektroskopii głębokich poziomów do badania struktury defektowej półprzewodników typu AIIIBV
    • Paduch Józef, Podstawy ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej w analitycznej mikroskopii elektronowej
    • Grześ Jarosław, Właściwości użytkowe i mikrostruktura wybranych powłok stopowych Ni-W-Co uzyskanych w procesie nakładania tamponowego
    • Kociszewski Longin, Basic properties and applications of advanced glass optical fibers
    • Petrovskij Vitalij Ja., Ceramika z azotku krzemu
    • Berkowski Marek, Wzrost monokryształów wieloskładnikowych związków tlenkowych metodą Chochralskiego
    • Wierzchowski Wojciech, Badania realnej struktury monokryształów i warstw epitaksjalnych z zastosowaniem promieniowania synchrotronowego i symulacji obrazów dyfrakcyjnych
    • Bukowski Jacek, Analiza wolframu i tantalu za pomocą spektrografu masowego ze wzbudzeniem iskrowym
    • Cendrowski Sławomir, Metody pomiaru elektryzacji statycznej folii z tworzyw sztucznych
    • Szymański Dariusz, Metody pomiaru parametrów aplikacyjnych past i warstw grubych. Cz. I
    • Szymański Dariusz, Metody pomiaru parametrów aplikacyjnych past i warstw grubych. Cz. II
    • Wehr Anna, Wpływ miedzi na złącza międzyfazowe srebro-nikiel
    • Bajor Andrzej L., Some problems of optical inhomogeneity testing in crystalline materials by imaging polarimetry
    • Inżynieria Materiałów Elektronicznych. II Seminarium zorganizowane pod patronatem KBN, 16 grudnia 1997 r.
    • Palczewska Maria, Charakteryzacja defektów paramagnetycznych w związkach półprzewodnikowych typu AIIIBV metodą ESR
    • Gawlik Grzegorz, Wpływ warunków implantacji i obróbki cieplnej na strukturę stopów żelaza
    • Gałązka Zbigniew, Teoretyczna i doświadczalna analiza naprężeń cieplnych i resztkowych w wybranych kryształach tlenkowych
    • Grabias Agnieszka, Struktura i własności magnetyczne amorficznych i nanokrystalicznych stopów FeZrB(Cu)
    • Kaliński Dariusz, Opracowanie spoiwa kompozytowego do spajania ceramiki korundowej z metalami
    • Nowe Materiały, Technologie, Mikrosystemy, a 5.Ramowy Program Badań, Rozwoju Technicznego i Prezentacji Unii Europejskiej (1998-2002), 8-10 grudnia 1999 r.
    • Wzrost i Charakterystyka Kryształów. Sympozjum Naukowe, 6-7 kwiatnia 2000 r., Katowice, Polska. Materiały
    • Inżynieria Materiałów Elektronicznych. II Seminarium zorganizowane pod patronatem KBN 16 grudnia 1997 roku
    • Sass Jerzy, Rentgenodyfrakcyjna analiza odkształceń koherentnych w półprzewodnikowych strukturach warstwach AIIIBV
    • Sprawozdanie z działalności Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych w roku 1995
    • Cybulski Piotr, Problemy automatyzacji czynności pomiarowych w badaniach i technologiach występujących na terenie CNPME Piotr Cybulski, Tadeusz Żero.
    • Cybulski Piotr, Automatyczny zestaw pomiarowy dla określania oporności właściwej metodą rozpływu oporności
    • Kędra Jerzy, Zestaw zbiorczej cyfrowej rejestracji temperatury CRT-1
    • Kędra Jerzy, Interface typu IDV-4 do współpracy woltomierza V-530 z drukarką VA-G-24A
    • Kędra Jerzy, Uniwersalny segregator do podziału na pięć grup dowolnych wielkości zmienionych na sygnał napięciowy
    • Matusewicz Stefan, Urządzenie adaptujące wyniki pomiaru Halla do rejestratora X - Y
    • Nagłowski Piotr, Matematyczny model filtru z fala powierzchniową
    • Sprawozdanie z działalności Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych w roku 1998
    • Inżynieria Materiałowa - Materiały Elektroniczne. Seminarium organizowane pod patronatem KBN
    • Rak Zbigniew S., Uwarunkowania i możliwości formowania ciśnieniowego ceramiki z zastosowaniem różnych mediów poślizgowo-wiążących
    • Wzrost i Charakteryzacja Kryształów Objętościowych. Sympozjum Poznań, 25.04-26.04.2002
    • Wojtkowski Tadeusz, Termistorowy miernik temperatury
    • Kaczyński Łukasz, Metody korekcyjne ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej pierwiastków lekkich
    • Boniecki Marek, Zjawisko nadplastyczności w wybranych ceramikach tlenkowych
    • Olesińska Wiesława, Spajanie ceramiki z metalami

Nazwa wydania	Data
Sprawozdanie z działalności Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych w roku 1998	2 paź 2020

Obiekty Podobne

Spis treści. Vol. 45 No. 2-4 [2017]

Materiały Elektroniczne

2017

Book/Chapter

• ris
• BibTeX

Electronic Materials

2020

Book/Chapter

• ris
• BibTeX

Spis treści. T.42 Nr 4 [2014]

2014

Book/Chapter

• ris
• BibTeX

Spis treści 2013 T. 41 nr 4 = Contents 2013 T.41 nr 4

2013

Book/Chapter

• ris
• BibTeX

Covering glass microspheres with Al2O3 or AlN by low-temperature atomic layer deposition / Rafał Stankiewicz, Anna PiDatkowska.

Stankiewicz, Rafał.

2018.

Book/Chapter

• ris
• BibTeX

Brak tytułu

Book/Chapter

• ris
• BibTeX

Spis treści 1990 nr 3(71) = Content 1990 nr 3(71)

1990

Text

• ris
• BibTeX

Spis treści 1990 nr 2(70) = Content 1990 nr 2(70)

1993

Text

• ris
• BibTeX

Więcej

podobne w FBC

Więcej w FBC