Nowa metoda identyfikacji typu dyslokacji na podstawie topografii rentgenowskiej Langa - Digital Repository of Scientific Institutes

Skip to main menu
Skip to search engine
Skip to content
Skip to footer

Nowa metoda identyfikacji typu dyslokacji na podstawie topografii rentgenowskiej Langa

Download

Title: Nowa metoda identyfikacji typu dyslokacji na podstawie topografii rentgenowskiej Langa

Creator:

Majcher Krzysztof

Date issued/created:

Resource type:

Subtitle:

Materiały Elektroniczne 1978 nr 3(23)

Publisher:

Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"

Place of publishing:

Description:

s. 22-24 : il. ; Bibliogr. s. 24 ; Zał

Type of object:

Książka/Rozdział

Relation:

Materiały Elektroniczne

Volume:

Issue:

Start page:

End page:

Detailed Resource Type:

Format:

24 cm. ; application/pdf

Resource Identifier:

oai:rcin.org.pl:18405

Source:

ITME, sygn. dostępny ; click here to follow the link

Language:

Rights:

Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony

Terms of use:

Zasób chroniony prawem autorskim. Korzystanie dozwolone w zakresie określonym przez przepisy o dozwolonym użytku.

Digitizing institution:

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Original in:

Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych

Projects co-financed by:

Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata 2010-2014, Priorytet 2. Infrastruktura strefy B + R ; Unia Europejska. Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego

Access:

Subject and keywords:

Elektronika - czasopismo - materiały Materiały elektroniczne topografia rentgenowska dyslokacja

Object collections:

Last modified:

Oct 2, 2020

In our library since:

Dec 31, 2012

Number of object content downloads / hits:

548

All available object's versions:

https://rcin.org.pl./publication/11364

Show description in RDF format:

Show description in RDFa format:

Show description in OAI-PMH format:

MATERIAŁY ELEKTRONICZNE

Edition name	Date
Majcher Krzysztof, Nowa metoda identyfikacji typu dyslokacji na podstawie topografii rentgenowskiej Langa	Oct 2, 2020

Objects Similar

Odwzorowywanie dyslokacji w krzemowych warstwach epitaksjalnych metodami odbiciowymi rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej

Wierzchowski Wojciech

1984

Tekst

Badanie dyslokacji w krzemie i w krzemowych warstwach epitaksjalnych za pomocą rentgenowskiej topografii odbiciowej metodą Berga-Barretta

Wierzchowski Wojciech

1975

Tekst

Zastosowanie transmisyjnej topografii rentgenowskiej w nierównoległym układzie spektrometru dwukrystalicznego do badania homoepitaksjalnych warstw Si

Sass Jerzy

1974

Tekst

Rentgenograficzne badania półizolacyjnych monokryształów GaAs

Wierzchowski Wojciech

1988

Tekst

Badania metodami rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej defektów strukturalnych monokryształów Y2Al5O12 silnie domieszkowanych neodymem

Mazur Krystyna

1988

Tekst

The mechanism of dislocation mobility in silicon = Mechanizm ruchu dyslokacji w krzemie

Valčič Andreja V.

1977

Tekst

Defekty strukturalne w monokryształach GaAs o niskiej gęstości dyslokacji

Pawłowska Marta

1988

Tekst

Badanie powstawania dyslokacji niedopasowania w krzemowych warstwach epitaksjalnych

Mazur Krystyna

1981

Tekst

More

Citation style:

iso690-author-date apa modern-language-association chicago-author-date

This page uses 'cookies'. More information