Badania elipsometryczne krzemu implantowanego fosforem = Ellipsometric studies of P+ implanted silicon - Digital Repository of Scientific Institutes

Skip to main menu
Skip to search engine
Skip to content
Skip to footer

Badania elipsometryczne krzemu implantowanego fosforem = Ellipsometric studies of P+ implanted silicon

Download

Title: Badania elipsometryczne krzemu implantowanego fosforem = Ellipsometric studies of P+ implanted silicon

Creator:

Gawlik Grzegorz

Date issued/created:

Resource type:

Subtitle:

Materiały Elektroniczne 1987 nr 2(58)

Publisher:

Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"

Place of publishing:

Description:

s. 33-36 : il. ; 24 cm. ; Bibliogr. s. 36

Relation:

Electronic Materials

Volume:

Issue:

Start page:

End page:

Detailed Resource Type:

Format:

application/pdf

Resource Identifier:

oai:rcin.org.pl:9631

Source:

ITME, sygn. dostępny ; click here to follow the link

Language:

Rights:

Rights Reserved - Free Access

Terms of use:

Copyright-protected material. May be used within the limits of statutory user freedoms

Digitizing institution:

Institute of Electronic Materials Technology

Original in:

Library of the Electronic Materials Technology Institute

Projects co-financed by:

Programme Innovative Economy, 2010-2014, Priority Axis 2. R&D infrastructure ; European Union. European Regional Development Fund

Access:

Subject and keywords:

Electronic - journal - material Electronic materials ellipsometric studies implanted silicon

Object collections:

Last modified:

Oct 2, 2020

In our library since:

Aug 7, 2012

Number of object content downloads / hits:

397

All available object's versions:

https://rcin.org.pl./publication/12513

Show description in RDF format:

Show description in RDFa format:

Show description in OAI-PMH format:

MATERIAŁY ELEKTRONICZNE

Edition name	Date
Gawlik Grzegorz, Badania elipsometryczne krzemu implantowanego fosforem	Oct 2, 2020

Objects Similar

Wpływ warunków implantacji i obróbki cieplnej na strukturę stopów żelaza = Influence ion implantation and thermal treatment on the structure of iron alloys

Gawlik Grzegorz

1997

Text

Tendencje technologiczne w produkcji płytek krzemowych = Trends in silicon wafers production

Drzewiecki Paweł

1976

Text

Badanie przydatności płytkowego źródła domieszek arsenu do krzemu = Investigation of use the solid planar source to dope silicon with arsenic

Dobiech Teresa

1982

Text

Wpływ warunków implantacji i obróbki cieplnej na strukturę stopów żelaza. Praca doktorska = Influence of the implantation and heat treatment condictions on the structure of ion alloys

Gawlik Grzegorz

1996

Book/Chapter

Badania faz wzrostu monokryształów krzemu otrzymywanych metodą VLS z zastosowaniem złota i platyny = Investigations of growth phases of the silicon monocrystals grown by the VLS method using gold and platinum

Jakubicki Wojciech

1973

Text

The mechanism of dislocation mobility in silicon = Mechanizm ruchu dyslokacji w krzemie

Valčič, Andreja V.

1977

Text

Krzem monokrystaliczny otrzymywany metodą Czochralskiego o ulepszonych własnościach = Czochralski silicon single crystal material of improved quality

Grzejszczyk Wanda

1990

Text

Heteroepitaksjalne struktury GaAs-Si = GaAs-Si heteroepitaxial structures

Tomaszewski Jacek

1990

Text

More

Citation style:

iso690-author-date apa modern-language-association chicago-author-date

This page uses 'cookies'. More information