Materiały Elektroniczne 1998 T.26 nr 2
Świrkowicz Marek ; Gałązka Zbigniew ; Szyrski Włodzimierz
55-62 s. : il. 24 cm. ; Bibliogr. s. 62
ITME, sygn. dostępny ; click here to follow the link
Copyright-protected material. May be used within the limits of statutory user freedoms
Institute of Electronic Materials Technology
Library of the Electronic Materials Technology Institute
Programme Innovative Economy, 2010-2014, Priority Axis 2. R&D infrastructure ; European Union. European Regional Development Fund
Oct 2, 2020
Nov 20, 2012
400
https://rcin.org.pl./publication/15238
Edition name | Date |
---|---|
Kisielewski Jarosław, Wpływ warunków krystalizacji na powstawanie defektów w kryształach czteroboranu litu | Oct 2, 2020 |
Hanks, J. Cumming, D. H. M. Orpen, J. L. Parry, D. F. Warren, H. B.
Choquenot, D.
Lindström, E.