Wyszukiwanie zaawansowane
Wyszukiwanie zaawansowane
Wyszukiwanie zaawansowane
Wyszukiwanie zaawansowane
Wyszukiwanie zaawansowane
Materiały Elektroniczne 3(51)/1985
Lichowski Maciej ; Strzelecka Stanisława
Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
s. 47-59 : il. ; Bibliogr. s. 56
ITME, sygn. dostępny ; kliknij tutaj, żeby przejść
Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych
Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata 2010-2014, Priorytet 2. Infrastruktura strefy B + R ; Unia Europejska. Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego
2 paź 2020
6 sie 2012
475
https://rcin.org.pl./publication/12417
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Kot Waldemar, Określanie stopnia kompensacji w Si : P na podstawie temperaturowej zależności koncentracji elektronów | 2 paź 2020 |
Russo, D. Jones, G.
Shiel, C. B. Fairley, J. S.
Shiel, C. B. Duverg‚, P. L. Smiddy, P. Fairley, J. S.
Shirley, M. D. F. Armitage, V. L. Barden, T. L. Gough, M. Lurz, P. W. W. Oatway, D. E. South, A. B. Rushton, S. P.
Waters, D. Jones, G. Furlong, M.
Bones, M. Neill, B. Reid, B.
Rachlow, J. L. Bowyer, R. T.