Scanning electron microscope at low voltage operation - a unique characterization tool for graphene layers - Digital Repository of Scientific Institutes

Skip to main menu
Skip to search engine
Skip to content
Skip to footer

Scanning electron microscope at low voltage operation - a unique characterization tool for graphene layers

Download

Title: Scanning electron microscope at low voltage operation - a unique characterization tool for graphene layers

Creator:

Date issued/created:

Resource type:

Subtitle:

Skaningowy mikroskop elektronowy pracujący w zakresie niskich wartości napięcia przyspieszającego jako unikatowe narzędzie do charakteryzacji warstw grafenu

Contributor:

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych. Wyd.

Publisher:

Place of publishing:

Description:

Bibliogr. s.: 15-16 ; s.: 11-16, il. 30 cm.

References:

15-16

Relation:

Materiały Elektroniczne

Volume:

Issue:

Start page:

End page:

Detailed Resource Type:

Format:

A4 ; application/pdf

Resource Identifier:

oai:rcin.org.pl:63366

Source:

click here to follow the link

Language:

Language of abstract:

Rights:

Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony

Terms of use:

Zasób chroniony prawem autorskim. Korzystanie dozwolone w zakresie określonym przez przepisy o dozwolonym użytku.

Digitizing institution:

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Original in:

Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych

Projects co-financed by:

Unia Europejska. Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego ; Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata 2010-2014, Priorytet 2. Infrastruktura strefy B + R

Access:

Subject and keywords:

Graphene Graphene characterization Low-kV scanning electron microscopy Grafen Charakteryzacja grafenu Niskoenergetyczna skaningowa mikroskopia elektronowa

Object collections:

Last modified:

Mar 30, 2021

In our library since:

Oct 18, 2017

Number of object content downloads / hits:

212

All available object's versions:

https://rcin.org.pl./publication/83005

Show description in RDF format:

Show description in RDFa format:

Show description in OAI-PMH format:

MATERIAŁY ELEKTRONICZNE

Edition name	Date
Jóźwik Iwona, Scanning electron microscope at low voltage operation - a unique characterization tool for graphene layers	Mar 30, 2021

Objects Similar

Prezentacja głównego zakresu możliwosci obrazowania i analiza za pomoca mikroskopu Auriga Crossbeam Workstation firmy Carl Zeiss znajdującego się w Instytucie Technologii Materiałów Elektronicznych w Warszawie

Jóźwik Iwona

2009

Tekst

Electrical properties of Ag-C and Cu-C contact materials Katarzyna Pietrzak, Andrzej Gładki, Krystyna Frydman, Danuta Wójcik-Grzybek, Kamil Kaszyca, Piotr Borkowski.

Pietrzak Katarzyna

2016

Tekst

Grafen otrzymywany metodą elektrolityczną na podłożach z węglika krzemu

Stańczyk Beata

2014

Książka/Rozdział

Spektroskopia ramanowska grafenu

Grodecki Kacper

2013

Książka/Rozdział

Tlenek grafenu jako pasywny modulator dobroci w laserze na ceramice Nd:YAG

Podniesiński Dariusz

2013

Tekst

Ocena właściwości hydrofobowych pokryć organicznych modyfikowanych grafenem płatkowym

Stańczyk Beata

2017

Książka/Rozdział

The influence of reducing agents on the reduced graphene oxide specific surface area determined on the basis of nitrogen adsorption isotherm / Tomasz Strachowski, Michał Woluntarski, Małgorzata Djas, Krystian Kowiorski, Zbigniew Wiliński, Magdalena Baran, Joanna Jagiełło, Magdalena Winkowska, Ludwika Lipińska.

Strachowski Tomasz

2017

Książka/Rozdział

Mechanika kruchego pękania ceramiki korundowej wzmocnionej płatkami grafenowymi

Boniecki Marek

2013

Książka/Rozdział

More

Citation style:

iso690-author-date apa modern-language-association chicago-author-date

This page uses 'cookies'. More information