• Przejdź do menu głównego
• Przejdź do wyszukiwarki
• Przejdź do treści
• Przejdź do stopki

• Wyszukaj w całym Repozytorium
• Piśmiennictwo i mapy
• Archeologia
• Baza Młynów
• Nauki przyrodnicze

Szukaj w Repozytorium

Pole wyszukiwania Wyszukaj

Jak wyszukiwać... Wyszukiwanie zaawansowane

Wyszukiwanie zaawansowane

Zamknij

Wszystkie pola Szukaj w treści Nazwa/Tytuł Lokalizacja geograficzna Relation Subject and Keywords

n.e. p.n.e.

n.e. p.n.e.

i lub

Nazwa/Tytuł Lokalizacja geograficzna Relation Subject and Keywords

n.e. p.n.e.

n.e. p.n.e.

Usuń

Dodaj element zapytania

Obiekt zawiera współrzędne geograficzne

Jak wyszukiwać...

Wyszukaj

Szukaj w Piśmiennictwo i mapy

Pole wyszukiwania Wyszukaj

Jak wyszukiwać... Wyszukiwanie zaawansowane

Wyszukiwanie zaawansowane

Zamknij

Wszystkie pola Szukaj w treści Tytuł Relation Autor/Twórca Subject and Keywords Publisher Data wydania/powstania Spatial coverage

n.e. p.n.e.

n.e. p.n.e.

i lub

Tytuł Relation Autor/Twórca Subject and Keywords Publisher Data wydania/powstania Spatial coverage

n.e. p.n.e.

n.e. p.n.e.

Usuń

Dodaj element zapytania

Obiekt zawiera współrzędne geograficzne

Jak wyszukiwać...

Wyszukaj

Szukaj w Archeologia

Pole wyszukiwania Wyszukaj

Jak wyszukiwać... Wyszukiwanie zaawansowane

Wyszukiwanie zaawansowane

Zamknij

Wszystkie pola Szukaj w treści Nazwa Lokalizacja Object type Research Manager/ Creator of Collection Chronology Relation Characteristics of the object- raw material Accession number

n.e. p.n.e.

n.e. p.n.e.

i lub

Nazwa Lokalizacja Object type Research Manager/ Creator of Collection Chronology Relation Characteristics of the object- raw material Accession number

n.e. p.n.e.

n.e. p.n.e.

Usuń

Dodaj element zapytania

Obiekt zawiera współrzędne geograficzne

Jak wyszukiwać...

Wyszukaj

Szukaj w Baza Młynów

Pole wyszukiwania Wyszukaj

Jak wyszukiwać... Wyszukiwanie zaawansowane

Wyszukiwanie zaawansowane

Zamknij

Wszystkie pola Szukaj w treści Nazwa ujednolicona Lokalizacja Object type

n.e. p.n.e.

n.e. p.n.e.

i lub

Nazwa ujednolicona Lokalizacja Object type

n.e. p.n.e.

n.e. p.n.e.

Usuń

Dodaj element zapytania

Obiekt zawiera współrzędne geograficzne

Jak wyszukiwać...

Wyszukaj

Szukaj w Nauki przyrodnicze

Pole wyszukiwania Wyszukaj

Jak wyszukiwać... Wyszukiwanie zaawansowane

Wyszukiwanie zaawansowane

Zamknij

Wszystkie pola Szukaj w treści Herbarium acronym Numer/kod Kategoria ponadrodzajowa Nazwa łacińska Polish name Lokalizacja Collection date Collector/ Recorded by Type

n.e. p.n.e.

n.e. p.n.e.

i lub

Herbarium acronym Numer/kod Kategoria ponadrodzajowa Nazwa łacińska Polish name Lokalizacja Collection date Collector/ Recorded by Type

n.e. p.n.e.

n.e. p.n.e.

Usuń

Dodaj element zapytania

Typ nomenklaturowy

Obiekt zawiera współrzędne geograficzne

Jak wyszukiwać...

Wyszukaj

Poproś o dostęp

Odmowa wysyłania. Niepoprawny tekst z obrazka.

Odmowa wysyłania. Weryfikacja reCAPTCHA nie powiodła się.

Nie masz uprawnień do wyświetlenia tego obiektu. Aby poprosić o dostęp do niego, wypełnij poniższe pola.

E-mail^* Uzasadnienie^*

Wpisz tekst z obrazka. ^*

Anuluj Wyślij

Obiekt

Pobierz opis bibliograficzny

• ris
• BibTeX
• EndNote
• Csv

• pl en

Zaktualizowano subskrypcję.

Błąd podczas zmiany subskrypcji.

• Pokaż treść

Pobierz

• Opis
• Informacje
• Struktura

Tytuł: Wady krystalograficzne i przebicia mikroplazmowe w epitaksjalnych złączach p-n = Structural defects and microplasma breakdowns in epitaxial p-n layers

Creator:

Magden I.N

Date issued/created:

1975

Resource type:

Text

Więcej

Subtitle:

Materiały Elektroniczne 1975 nr 3(11)

Contributor:

Safonow W.A. ; Turczaninow J.N.

Publisher:

Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"

Place of publishing:

Warszawa

Description:

s.7-11 : il. ; 24 cm. ; Bibliogr. s. 11

Relation:

Electronic Materials

Volume:

11

Issue:

3

Start page:

7

End page:

11

Detailed Resource Type:

Article

Format:

application/pdf

Resource Identifier:

oai:rcin.org.pl:19838

Source:

ITME, sygn. ; kliknij tutaj, żeby przejść

Language:

pol

Rights:

Rights Reserved - Free Access

Terms of use:

Copyright-protected material. May be used within the limits of statutory user freedoms

Digitizing institution:

Institute of Electronic Materials Technology

Original in:

Library of the Electronic Materials Technology Institute

Projects co-financed by:

Programme Innovative Economy, 2010-2014, Priority Axis 2. R&D infrastructure ; European Union. European Regional Development Fund

Access:

Open

Temat i słowa kluczowe:

Electronic - materials Electronic - journal - materials epitaxial p-n junction structural defect microplasma breakdown

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

• Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych > Kolekcje Partnerów > Sieć Badawcza Łukasiewicz – Instytut Mikroelektroniki i Fotoniki > Materiały Elektroniczne
• Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych > Piśmiennictwo > Książki/Rozdziały

Data ostatniej modyfikacji:

2 paź 2020

Data dodania obiektu:

12 lut 2013

Liczba pobrań / odtworzeń:

283

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://rcin.org.pl./publication/10768

Wyświetl opis w formacie RDF:

RDF

Wyświetl opis w formacie RDFa:

RDFa

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

OAI-PMH

• MATERIAŁY ELEKTRONICZNE
  • Materiały Elektroniczne 1973
  • Materiały Elektroniczne 1974
  • Materiały Elektroniczne 1975
    • Materiały Elektroniczne 1975 nr 1(9)
    • Materiały Elektroniczne 1975 nr 2(10)
    • Materiały Elektroniczne 1975 nr 3(11)
      • Spis treści 1975 nr 3(11)
      • Magden I.N, Wady krystalograficzne i przebicia mikroplazmowe w epitaksjalnych złączach p-n
      • Pietras Edward, Generacja defektów w czasie dyfuzji cynku do arsenku galu
      • Vieth Wojciech, Roztwory ciekłych kryształów
      • Wolnik Irena, Oznaczanie zanieczyszczeń w mieszaninach azotu z silanem
      • Nowacki Janusz, Niskociśnieniowe tłoczywo epoksydowe NE-4
    • Materiały Elektroniczne 1975 nr 4(12)
  • Materiały Elektroniczne 1976
  • Materiały Elektroniczne 1977
  • Materiały Elektroniczne 1978
  • Materiały Elektroniczne 1979
  • Materiały Elektroniczne 1980
  • Materiały Elektroniczne 1981
  • Materiały Elektroniczne 1982
  • Materiały Elektroniczne 1983
  • Materiały Elektroniczne 1984
  • Materiały Elektroniczne 1985
  • Materiały Elektroniczne 1986
  • Materiały Elektroniczne 1987
  • Materiały Elektroniczne 1988
  • Materiały Elektroniczne 1989
  • Materiały Elektroniczne 1990
  • Materiały Elektroniczne 1991
  • Materiały Elektroniczne 1992
  • Materiały Elektroniczne 1993
  • Materiały Elektroniczne 1994
  • Materiały Elektroniczne 1995
  • Materiały Elektroniczne 1996
  • Materiały Elektroniczne 1997
  • Materiały Elektroniczne 1998
  • Materiały Elektroniczne 1999
  • Materiały Elektroniczne 2000
  • Materiały Elektroniczne 2001
  • Materiały Elektroniczne 2002
  • Materiały Elektroniczne 2003
  • Materiały Elektroniczne 2004
  • Materiały Elektroniczne 2005
  • Materiały Elektroniczne 2006
  • Materiały Elektroniczne 2007
  • Materiały Elektroniczne 2008
  • Materiały Elektroniczne 2009
  • Materiały Elektroniczne 2010
  • Materiały Elektroniczne 2011
  • Materiały Elektroniczne 2012
  • Materiały Elektroniczne 2013
  • Materiały Elektroniczne 2014
  • Materiały Elektroniczne 2015
  • Materiały Elektroniczne 2016
  • Materiały Elektroniczne 2017
  • Materiały Elektroniczne 2018
  • Materiały Elektroniczne 2019
  • Materiały Elektroniczne 2020

Nazwa wydania	Data
Magden I.N, Wady krystalograficzne i przebicia mikroplazmowe w epitaksjalnych złączach p-n	2 paź 2020

Obiekty Podobne

Defekty strukturalne w monokryształach GaAs o niskiej gęstości dyslokacji

Pawłowska Marta

1988

Tekst

• ris
• BibTeX

Badanie aktywności elektrycznej defektów strukturalnych w monokryształach półprzewodnikowych = Investigation of the electrical activity of structural defects in semiconductors monocrystals

Pawłowska Marta

1986

Tekst

• ris
• BibTeX

Badania metodami rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej defektów strukturalnych monokryształów Y2Al5O12 silnie domieszkowanych neodymem

Mazur Krystyna

1988

Tekst

• ris
• BibTeX

Zastosowanie niestacjonarnej spektroskopii głębokich poziomów do badania struktury defektowej półprzewodników typu AIIIBV

Kamiński Paweł

1991

Tekst

• ris
• BibTeX

Spis treści. Vol. 45 No. 2-4 [2017]

Materiały Elektroniczne

2017

Książka/Rozdział

• ris
• BibTeX

Materiały Elektroniczne

2020

Książka/Rozdział

• ris
• BibTeX

Spis treści. T.42 Nr 4 [2014]

2014

Książka/Rozdział

• ris
• BibTeX

Spis treści 2013 T. 41 nr 4

2013

Książka/Rozdział

• ris
• BibTeX

Więcej

podobne w FBC

Więcej w FBC