Przegląd metod analizy metali i materiałów półprzewodnikowych = Methods of analysis of metals and semiconductors - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Przejdź do menu głównego
Przejdź do wyszukiwarki
Przejdź do treści
Przejdź do stopki

Przegląd metod analizy metali i materiałów półprzewodnikowych = Methods of analysis of metals and semiconductors

Pobierz

Tytuł: Przegląd metod analizy metali i materiałów półprzewodnikowych = Methods of analysis of metals and semiconductors

Twórca:

Jaworski Czesław

Data wydania/powstania:

Typ zasobu:

Inny tytuł:

Materiały Elektroniczne 1975 nr 2(10)

Współtwórca:

Patryas Zbigniew ; Sokołowska Wanda ; Witkowska Janina

Wydawca:

Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"

Miejsce wydania:

Opis:

s. 40-51 : il. ; 24 cm.

Czasopismo/Seria/cykl:

Electronic Materials

Tom:

Zeszyt:

Strona pocz.:

Strona końc.:

Szczegółowy typ zasobu:

Format:

application/pdf

Identyfikator zasobu:

oai:rcin.org.pl:19868

Źródło:

ITME, sygn. dostępny ; kliknij tutaj, żeby przejść

Język:

Prawa:

Rights Reserved - Free Access

Zasady wykorzystania:

Copyright-protected material. May be used within the limits of statutory user freedoms

Digitalizacja:

Institute of Electronic Materials Technology

Lokalizacja oryginału:

Library of the Electronic Materials Technology Institute

Dofinansowane ze środków:

Programme Innovative Economy, 2010-2014, Priority Axis 2. R&D infrastructure ; European Union. European Regional Development Fund

Dostęp:

Temat i słowa kluczowe:

Electronic - materials Electronic - journal - materials metal-ceramic joints semiconductor materials

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

2 paź 2020

Data dodania obiektu:

13 lut 2013

Liczba pobrań / odtworzeń:

575

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://rcin.org.pl./publication/10763

Wyświetl opis w formacie RDF:

Wyświetl opis w formacie RDFa:

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

MATERIAŁY ELEKTRONICZNE

Nazwa wydania	Data
Jaworski Czesław, Przegląd metod analizy metali i materiałów półprzewodnikowych	2 paź 2020

Obiekty Podobne

Układ polaryskopu optycznego do bdań naprężeń w materiałach półprzewodnikowych = Plane polariscope for photoelastic measurement of semiconductors

Adamkiewicz, Grażyna

1985

Text

Badania mikrostruktury półprzewodnikowych materiałów tlenkowych = Investigation of microstructure semiconductor oxides

Petrović W.J

1976

Text

Badania nad złączami metal-szafir i szafir-lukalox = The study of metal-sapphire and metal-polycrystalline Al2)3 joints

Olesińska Wiesława

1974

Text

Obudowa światłowodowa półprzewodnikowego wskaźnika cyfrowego = Light guide package for semiconductor numeric display

Nowacki Janusz

1976

Text

Potencjalne możliwości zastosowań polaryskopu liniowego do badań naprężeń i defektów strukturalnych w materiałach półprzewodnikowych = Potentialities of the plane polariscope for studing of residual stress and crystallographic defects in semiconductors

Adamkiewicz Grażyna

1988

Text

Badania półprzewodnikowych roztworów stałych za pomocą sond elektronowych i jonowych = Research in semiconductor dolid solutions by means of electron and ion probes

Fistul, W.I

1976

Text

Związki półprzewodnikowe i ich roztwory stałe = Semiconductor compounds and their stable solutions

Jakowlew Bolesław

1975

Text

Niektóre problemy związane z jakością materiału wyjściowego w technologii krzemowych przyrządów półprzewodnikowych = Some problems of starting material quality in silicon devices technology

Pietras Edward

1975

Text

Więcej

Styl cytowania:

iso690-author-date apa modern-language-association chicago-author-date

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji