Przegląd metod analizy metali i materiałów półprzewodnikowych = Methods of analysis of metals and semiconductors - Digital Repository of Scientific Institutes

Skip to main menu
Skip to search engine
Skip to content
Skip to footer

Przegląd metod analizy metali i materiałów półprzewodnikowych = Methods of analysis of metals and semiconductors

Download

Title: Przegląd metod analizy metali i materiałów półprzewodnikowych = Methods of analysis of metals and semiconductors

Creator:

Jaworski Czesław

Date issued/created:

Resource type:

Subtitle:

Materiały Elektroniczne 1975 nr 2(10)

Contributor:

Patryas Zbigniew ; Sokołowska Wanda ; Witkowska Janina

Publisher:

Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"

Place of publishing:

Description:

s. 40-51 : il. ; 24 cm.

Relation:

Electronic Materials

Volume:

Issue:

Start page:

End page:

Detailed Resource Type:

Format:

application/pdf

Resource Identifier:

oai:rcin.org.pl:19868

Source:

ITME, sygn. dostępny ; click here to follow the link

Language:

Rights:

Rights Reserved - Free Access

Terms of use:

Copyright-protected material. May be used within the limits of statutory user freedoms

Digitizing institution:

Institute of Electronic Materials Technology

Original in:

Library of the Electronic Materials Technology Institute

Projects co-financed by:

Programme Innovative Economy, 2010-2014, Priority Axis 2. R&D infrastructure ; European Union. European Regional Development Fund

Access:

Subject and keywords:

Electronic - materials Electronic - journal - materials metal-ceramic joints semiconductor materials

Object collections:

Last modified:

Oct 2, 2020

In our library since:

Feb 13, 2013

Number of object content downloads / hits:

575

All available object's versions:

https://rcin.org.pl./publication/10763

Show description in RDF format:

Show description in RDFa format:

Show description in OAI-PMH format:

MATERIAŁY ELEKTRONICZNE

Edition name	Date
Jaworski Czesław, Przegląd metod analizy metali i materiałów półprzewodnikowych	Oct 2, 2020

Objects Similar

Układ polaryskopu optycznego do bdań naprężeń w materiałach półprzewodnikowych = Plane polariscope for photoelastic measurement of semiconductors

Adamkiewicz, Grażyna

1985

Text

Badania mikrostruktury półprzewodnikowych materiałów tlenkowych = Investigation of microstructure semiconductor oxides

Petrović W.J

1976

Text

Badania nad złączami metal-szafir i szafir-lukalox = The study of metal-sapphire and metal-polycrystalline Al2)3 joints

Olesińska Wiesława

1974

Text

Obudowa światłowodowa półprzewodnikowego wskaźnika cyfrowego = Light guide package for semiconductor numeric display

Nowacki Janusz

1976

Text

Potencjalne możliwości zastosowań polaryskopu liniowego do badań naprężeń i defektów strukturalnych w materiałach półprzewodnikowych = Potentialities of the plane polariscope for studing of residual stress and crystallographic defects in semiconductors

Adamkiewicz Grażyna

1988

Text

Badania półprzewodnikowych roztworów stałych za pomocą sond elektronowych i jonowych = Research in semiconductor dolid solutions by means of electron and ion probes

Fistul, W.I

1976

Text

Związki półprzewodnikowe i ich roztwory stałe = Semiconductor compounds and their stable solutions

Jakowlew Bolesław

1975

Text

Niektóre problemy związane z jakością materiału wyjściowego w technologii krzemowych przyrządów półprzewodnikowych = Some problems of starting material quality in silicon devices technology

Pietras Edward

1975

Text

More

Citation style:

iso690-author-date apa modern-language-association chicago-author-date

This page uses 'cookies'. More information