Materiały Elektroniczne 2013 T.41 nr 1
ITME, sygn. dostępny ; kliknij tutaj, żeby przejść
Copyright-protected material. May be used within the limits of statutory user freedoms
Institute of Electronic Materials Technology
Library of the Institute of Electronic Materials Technology
Programme Innovative Economy, 2010-2014, Priority Axis 2. R&D infrastructure ; European Union. European Regional Development Fund
2 paź 2020
26 lis 2013
436
https://rcin.org.pl./publication/51928
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Kozubal Michał, Identyfikacja centrów defektowych w warstwach epitaksjalnych 4H-SiC | 2 paź 2020 |
Kozubal Michał
Kamiński Paweł
Kozubal Michał
Kozubal Michał
Tymicki Emil
Tymicki Emil