• Skip to main menu
• Skip to search engine
• Skip to content
• Skip to footer

• Search in all Repository
• Literature and maps
• Archeology
• Mills database
• Natural sciences

Search in Repository

Search field Search

How to search... Advanced search

Advanced search

Close

All fields Search in content Name/Title Geographical location Relation Subject and Keywords

A.D. B.C.

A.D. B.C.

and or

Name/Title Geographical location Relation Subject and Keywords

A.D. B.C.

A.D. B.C.

Remove

Add query element

Object contains the geographical coordinates

How to search...

Search

Search in Literature and maps

Search field Search

How to search... Advanced search

Advanced search

Close

All fields Search in content Title Relation Author/Creator Subject and Keywords Publisher Publishing date Spatial coverage

A.D. B.C.

A.D. B.C.

and or

Title Relation Author/Creator Subject and Keywords Publisher Publishing date Spatial coverage

A.D. B.C.

A.D. B.C.

Remove

Add query element

Object contains the geographical coordinates

How to search...

Search

Search in Archeology

Search field Search

How to search... Advanced search

Advanced search

Close

All fields Search in content Name Localisation Object type Research Manager/ Creator of Collection Chronology Relation Characteristics of the object- raw material Accession number

A.D. B.C.

A.D. B.C.

and or

Name Localisation Object type Research Manager/ Creator of Collection Chronology Relation Characteristics of the object- raw material Accession number

A.D. B.C.

A.D. B.C.

Remove

Add query element

Object contains the geographical coordinates

How to search...

Search

Search in Mills database

Search field Search

How to search... Advanced search

Advanced search

Close

All fields Search in content Unified name Localisation Object type

A.D. B.C.

A.D. B.C.

and or

Unified name Localisation Object type

A.D. B.C.

A.D. B.C.

Remove

Add query element

Object contains the geographical coordinates

How to search...

Search

Search in Natural sciences

Search field Search

How to search... Advanced search

Advanced search

Close

All fields Search in content Herbarium acronym catalogNumber/barcode Supra-generic category Latin name Polish name Localisation Collection date Collector/ Recorded by Type

A.D. B.C.

A.D. B.C.

and or

Herbarium acronym catalogNumber/barcode Supra-generic category Latin name Polish name Localisation Collection date Collector/ Recorded by Type

A.D. B.C.

A.D. B.C.

Remove

Add query element

Nomenclature type

Object contains the geographical coordinates

How to search...

Search

Secured publication

Sending declined. Incorrect text from the image.

Sending declined. reCAPTCHA verification has failed.

This publication is unavailable to your account. If you have more privileged account please try to use it or contact with the institution connected to this digital library.

Type your email^* Type your reason^*

Enter the text above. ^*

Cancel Send

Object

Download bibliography description

• ris
• BibTeX
• EndNote
• Csv

• pl en

Subscribtion state has been changed.

Error while changing subscribtion state.

• Show content

Download

• Description
• Information
• Structure

Title: Wpływ wybranych zanieczyszczeń metalicznych na niektóre parametry elektryczne i perfekcję strukturalną krzemowych warstw epitaksjalnych = Influence of selected metallic contamination impurities on some electrical parameters and structural perfection of silicon epitaxial layers

Creator:

Wiraszka Marek

Date issued/created:

1975

Resource type:

Text

More

Subtitle:

Proceedings of ONPMP 1975 nr 5

Contributor:

Schab Krzysztof

Publisher:

Wydaw. Przem. Masz. "WEMA"

Place of publishing:

Warszawa

Description:

[36] s. : il. 24 cm. ; Bibliogr. s. 14

Relation:

Proceedings of ONPMP

Issue:

5

Start page:

1

End page:

36

Detailed Resource Type:

Article

Format:

application/pdf

Resource Identifier:

oai:rcin.org.pl:28881

Source:

ITME, sygn. dostępny ; click here to follow the link

Language:

pol

Rights:

Rights Reserved - Free Access

Terms of use:

Copyright-protected material. May be used within the limits of statutory user freedoms

Digitizing institution:

Institute of Electronic Materials Technology

Original in:

Library of the Electronic Materials Technology Institute

Projects co-financed by:

Programme Innovative Economy, 2010-2014, Priority Axis 2. R&D infrastructure ; European Union. European Regional Development Fund

Access:

Open

Subject and keywords:

Electronic - journal - material Electronic materials metallic impurity electrical parameter Si epitaxial layer

Object collections:

• Digital Repository of Scientific Institutes > Partners' collections > Łukasiewicz Research Network - Institute of Microelectronics and Photonics > ITME works
• Digital Repository of Scientific Institutes > Literature > Books/Chapters

Last modified:

Oct 2, 2020

In our library since:

May 29, 2013

Number of object content downloads / hits:

729

All available object's versions:

https://rcin.org.pl./publication/17241

Show description in RDF format:

RDF

Show description in RDFa format:

RDFa

Show description in OAI-PMH format:

OAI-PMH

• PRACE ITME
  • PRACE ONPMP
    • Olesińska Wiesława, Badania nad złączami metal-szafir i szafir-lukalox
    • Nowacki Janusz, Materiały z tworzyw sztucznych do elementów optoelektronicznych
    • Jeske Witold, Monokryształy krzemu - ich własności oraz metody i urządzenia do ich wytwarzania
    • Patryas Z., Analiza platyny i rodu za pomocą spektrometru masowego
    • Wiraszka Marek, Wpływ wybranych zanieczyszczeń metalicznych na niektóre parametry elektryczne i perfekcję strukturalną krzemowych warstw epitaksjalnych
    • Pietras Edward, Niektóre problemy związane z jakością materiału wyjściowego w technologii krzemowych przyrządów półprzewodnikowych
    • Lejbrandt Marek, Spiekane podkładki kompensacyjne WNiCu do tyrystorów małej mocy
    • Nossarzewska-Orłowska Elżbieta, Niektóre defekty obserwowane w homoepitaksjalnych warstwach krzemu
    • Lejbrandt Marek, Spiekanie aktywowane molibdenu
    • Małecki Jerzy, Badanie kinetyki odwęglania stopu FeNi29Co17 /kowar/ w środowisku gazowym H2 + H2O. Cz. I.: Badania nad szybkością dyfuzji węgla w stopie FeNi29Co17
    • Małecki Jerzy, Badanie kinetyki odwęglania stopu FeNi29Co17 /kowar/ w środowisku gazowym H2 + H2O. Cz. II.: Badania wpływu różnych punktów rosy środowiska gazowego H2 + H2O na przebieg procesu odwęglania stopu FeNi29Co17
    • Włosiński Władysław, Zjawiska dyfuzyjne w granicznych warstwach połączeń ceramika-metal w aspekcie potymalizacji technologii
    • Wolnik Irena, Chromatograficzne metody analizy mieszanin gazowych H2+5% PH3, H2+10% AsH, H2+0,05% H2Se. Zastosowanie chromatografu z defektorem helowym w analizie gazów do celów półprzewodnikowych
    • Cieślawski Andrzej, Badania właśności mechanicznych materiałów ceramicznych
    • Lasocka Maria, Niektóre zagadnienia tworzenia i stabilności niekrystalicznego stanu stałego na przykładzie układów chalkogenidowych
    • Pietras Edward, Problemy związane z jakością arsenku galu w technologii dyfuzyjnych diod elektroluminescencyjnych
    • Adamiec Maria, Procesy zachodzące w toku spiekania tworzyw o składzie stechiometrycznym ZrO2 - TiO2 domieszkowanych tlenkiem cynku
    • Kociszewski Longin, Problemy materiałowe w technologii wytwarzania włókien optycznych do światłowodów
    • Jaworska Hanna, Stosowanie i regeneracja rozpuszczalników w przemyśle elektronicznym
    • Cuber Wanda, Badanie wpływu warunków łączenia ceramiki korundowej z metalem na kinetykę tworzenia się warstwy spinelowej
    • Muszkat Wacław, Własności i zachowanie się warstw niklowych w złączach ceramika-metal
    • Piątkowski Bronisław, Niektóre problemy poprawy parametrów geometrycznych polerowanych płytek krzemowych
    • Czerwińska Anna, Wpływ warunków polerowania na chropowatość powierzchni płytek krzemowych
    • Witkowska Janina, Zastosowanie metody karbaminianowej do oznaczania śladowych ilości arsenu w trójchlorku fosforu, tlenochlorku fosforu i trójtlenku boru do celów półprzewodnikowych
    • Kamiński Paweł, Badania centrów defektowych poprzez pomiary termiczne lub optycznie stymulowanych prądów i pojemności złącz p-n i barier Schottky'ego
    • Boniecki Marek, Wpływ niektórych czynników technologicznych na przyczepność warstw metalicznych
    • Korec Jacek, Krzemowe warstwy homoepitaksjalne
    • Pietras Edward, Warunki generacji promieniowania w cynkowych warstwach dyfuzyjnych z arsenku galu
  • PRACE ITME

Edition name	Date
Wiraszka Marek, Wpływ wybranych zanieczyszczeń metalicznych na niektóre parametry elektryczne i perfekcję strukturalną krzemowych warstw epitaksjalnych	Oct 2, 2020

Objects Similar

Odwzorowywanie dyslokacji w krzemowych warstwach epitaksjalnych metodami odbiciowymi rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej = The images of dislocations in silocon epitaxial layers obtained with help of X-ray diffraction topographic methods

Wierzchowski Wojciech

1984

Text

• ris
• BibTeX

Badanie powstawania dyslokacji niedopasowania w krzemowych warstwach epitaksjalnych = The investigations of misfit dislocations creation in silicon epitaxial layers

Mazur Krystyna

1981

Text

• ris
• BibTeX

Określenie parametrów elektrycznych epitaksjalnych warstw arsenofosforku galu osadzonych na podłożach GaAs = Determination of electrical properties for epitaxial GaAs1-P on the GaAs substrates

Kot Waldemar

1977

Text

• ris
• BibTeX

Metody charakteryzacji półizolacyjnych monokryształów GaAs = Methods of semi-insulating GaAs monocrystals characterisation

Strzelecka Stanisława

1992

Text

• ris
• BibTeX

Krzemowe warstwy epitaksjalne o zmiennym profilu rezystywności = Silicon epitaxial layers with profiled resistivity

Nossarzewska-Orłowska Elżbieta

1985

Text

• ris
• BibTeX

Niektóre defekty obserwowane w homoepitaksjalnych warstwach krzemu = Some of observed defects in silicon homoepitaxial layers

Nossarzewska-Orłowska Elżbieta

1976

Text

• ris
• BibTeX

Metoda dwutemperaturowego wzrostu krzemowych warstw epitaksjalnych = Two-temperature growth of Si epitaxial layers

Borkowicz Jerzy

1975

Text

• ris
• BibTeX

Krzemowe warstwy epitaksjalne o grubości powyżej 20 um = Silicon epitaxial layers of thickness above 20 um

Nossarzewska-Orłowska Elżbieta

1976

Text

• ris
• BibTeX

More

similar in FBC

More in FBC