Zastosowanie Fourierowskiej spektroskopii absorpcyjnej w podczerwieni do badania interfejsu SiO2//Si w łączonych strukturach SOI - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Przejdź do menu głównego
Przejdź do wyszukiwarki
Przejdź do treści
Przejdź do stopki

Zastosowanie Fourierowskiej spektroskopii absorpcyjnej w podczerwieni do badania interfejsu SiO2//Si w łączonych strukturach SOI

Pobierz

Tytuł: Zastosowanie Fourierowskiej spektroskopii absorpcyjnej w podczerwieni do badania interfejsu SiO2//Si w łączonych strukturach SOI

Twórca:

Możdżonek Małgorzata

Data wydania/powstania:

Typ zasobu:

Inny tytuł:

Materiały Elektroniczne 2008 T.36 nr 1

Współtwórca:

Piątkowski Bronisław ; Kozłowski Andrzej

Wydawca:

Miejsce wydania:

Opis:

38-48 s. : il. 24 cm. ; Bibliogr. s. 48

Czasopismo/Seria/cykl:

Materiały Elektroniczne

Tom:

Zeszyt:

Strona pocz.:

Strona końc.:

Szczegółowy typ zasobu:

Format:

application/pdf

Identyfikator zasobu:

oai:rcin.org.pl:7051

Źródło:

ITME, sygn. dostępny ; kliknij tutaj, żeby przejść

Język:

Prawa:

Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony

Zasady wykorzystania:

Zasób chroniony prawem autorskim. Korzystanie dozwolone w zakresie określonym przez przepisy o dozwolonym użytku.

Digitalizacja:

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Lokalizacja oryginału:

Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych

Dofinansowane ze środków:

Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata 2010-2014, Priorytet 2. Infrastruktura strefy B + R ; Unia Europejska. Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego

Dostęp:

Temat i słowa kluczowe:

Materiały elektroniczne Elektronika - czasopismo - materiały spektroskopia absorpcyjna w podczerwieni międzypowierzchniowa SiO2/Si

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

2 paź 2020

Data dodania obiektu:

28 cze 2012

Liczba pobrań / odtworzeń:

3582

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://rcin.org.pl./publication/15954

Wyświetl opis w formacie RDF:

Wyświetl opis w formacie RDFa:

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

MATERIAŁY ELEKTRONICZNE

Nazwa wydania	Data
Możdżonek Małgorzata, Zastosowanie Fourierowskiej spektroskopii absorpcyjnej w podczerwieni do badania interfejsu SiO2//Si w łączonych strukturach SOI	2 paź 2020

Obiekty Podobne

Określanie koncentracji azotu w monokryształach krzemu otrzymywanych metodą Czochralskiego na podstawie widm absorpcyjnych w zakresie dalekiej podczerwieni

Możdżonek Małgorzata

2007

Tekst

Zastosowanie spektroskopii odbiciowej w dalekiej podczerwieni do charakteryzacji zwierciadeł Bragga z AlAs/GaAs

Możdżonek Małgorzata

2012

Tekst

Wpływ porowatości na własności optyczne ceramiki MgAl2O4 w podczerwieni

Możdżonek Małgorzata

2011

Tekst

Determination of the thickness of BN layers on the Al2O3substrate by FT-IR spectroscopy

Możdżonek Małgorzata Caban Piotr Gaca Jarosław Wójcik Marek Piątkowska Anna

2020

Książka/Rozdział

Spis treści. Vol. 45 No. 2-4 [2017]

Materiały Elektroniczne

2017

Książka/Rozdział

Materiały Elektroniczne

2020

Książka/Rozdział

Spis treści. T.42 Nr 4 [2014]

2014

Książka/Rozdział

Spis treści 2013 T. 41 nr 4

2013

Książka/Rozdział

Więcej

Styl cytowania:

iso690-author-date apa modern-language-association chicago-author-date

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji