Zastosowanie formuły Robertsona do wyznaczania wielkości naprężeń w materiałach półprzewodnikowych - Digital Repository of Scientific Institutes

Skip to main menu
Skip to search engine
Skip to content
Skip to footer

Zastosowanie formuły Robertsona do wyznaczania wielkości naprężeń w materiałach półprzewodnikowych

Download

Title: Zastosowanie formuły Robertsona do wyznaczania wielkości naprężeń w materiałach półprzewodnikowych

Creator:

Date issued/created:

Resource type:

Subtitle:

Materiały Elektroniczne 1987 nr 1(57)

Contributor:

Adamkiewicz Grażyna

Publisher:

Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"

Place of publishing:

Description:

s. 17-27 : il. ; Bibliogr. s. 27

Relation:

Materiały Elektroniczne

Volume:

Issue:

Start page:

End page:

Detailed Resource Type:

Format:

24 cm. ; application/pdf

Resource Identifier:

oai:rcin.org.pl:9614

Source:

ITME, sygn. dostępny ; click here to follow the link

Language:

Rights:

Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony

Terms of use:

Zasób chroniony prawem autorskim. Korzystanie dozwolone w zakresie określonym przez przepisy o dozwolonym użytku.

Digitizing institution:

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Original in:

Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych

Projects co-financed by:

Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata 2010-2014, Priorytet 2. Infrastruktura strefy B + R ; Unia Europejska. Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego

Access:

Subject and keywords:

Materiały elektroniczne Elektronika - czasopismo - materiały naprężenie formuła Robertsona materiał półprzewodnikowy

Object collections:

Last modified:

Oct 2, 2020

In our library since:

Aug 7, 2012

Number of object content downloads / hits:

330

All available object's versions:

https://rcin.org.pl./publication/12500

Show description in RDF format:

Show description in RDFa format:

Show description in OAI-PMH format:

MATERIAŁY ELEKTRONICZNE

Edition name	Date
Bajor Andrzej, Zastosowanie formuły Robertsona do wyznaczania wielkości naprężeń w materiałach półprzewodnikowych	Oct 2, 2020

Objects Similar

Fotometryczna metoda pomiaru naprężeń w materiałach półprzewodnikowych

Bajor Andrzej

1985

Tekst

Zastosowanie metody Muellera do analizy zjawiska dwójłomności wymuszonej mechanicznie w materiałach półprzewodnikowych

Bajor Andrzej

1988

Tekst

Some problems of optical inhomogeneity testing in crystalline materials by imaging polarimetry

Bajor Andrzej L.

1996

Tekst

Potencjalne możliwości zastosowań polaryskopu liniowego do badań naprężeń i defektów strukturalnych w materiałach półprzewodnikowych

Adamkiewicz Grażyna

1988

Tekst

Możliwości modyfikacji charakterystyk promieniowania laserów półprzewodnikowych przez superpozycję naprężeń w warstwie aktywnej

Maląg Andrzej

2002

Tekst

Układ polaryskopu optycznego do bdań naprężeń w materiałach półprzewodnikowych

Adamkiewicz Grażyna

1985

Tekst

Symetria odkształceń sieci monokryształów o orientacji <111> otrzymanych metodą Czochralskiego

Adamkiewicz Grażyna

1987

Tekst

Polarymetryczna metoda badania dyspersji dwójłomności w kryształach. Praca doktorska

Bajor Andrzej Leopold

2004

Tekst

More

Citation style:

iso690-author-date apa modern-language-association chicago-author-date

This page uses 'cookies'. More information