O wyrywkowym sprawdzaniu przedmiotów przy warunku dwustronnym - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Przejdź do menu głównego
Przejdź do wyszukiwarki
Przejdź do treści
Przejdź do stopki

O wyrywkowym sprawdzaniu przedmiotów przy warunku dwustronnym

Pobierz

Ta publikacja jest chroniona prawem autorskim. Dostęp do jej cyfrowej wersji jest możliwy na terminalach komputerowych w instytucji, która ją udostępnia.

Ta publikacja jest chroniona prawem autorskim. Dostęp do jej cyfrowej wersji jest możliwy na terminalach komputerowych w instytucji, która ją udostępnia.

Tytuł: O wyrywkowym sprawdzaniu przedmiotów przy warunku dwustronnym

Twórca:

Oderfeld, Jan (1908–2010)

Data wydania/powstania:

Typ zasobu:

Inny tytuł:

Zastosowania Matematyki T.2 (1954-1956) ; On sampling inspection with a two-sided criterion

Współtwórca:

Polska Akademia Nauk. Instytut Matematyczny.

Wydawca:

Państwowe Wydawnictwo Naukowe

Miejsce wydania:

Warszawa ; Wrocław

Opis:

Od t.8 (1965) tyt. równol. : Applicationes Mathematicae ; 25 cm

Typ obiektu:

Czasopismo/Artykuł

Tom:

Strona pocz.:

Strona końc.:

Szczegółowy typ zasobu:

Format:

application/pdf

Identyfikator zasobu:

oai:rcin.org.pl:38430

Źródło:

IM PAN, sygn. cz332 ; kliknij tutaj, żeby przejść

Język:

pol ; eng ; rus

Prawa:

Prawa zastrzeżone - dostęp ograniczony

Zasady wykorzystania:

Zasób chroniony prawem autorskim. Korzystanie dozwolone wyłącznie na terminalach Instytutu Matematycznego PAN w zakresie określonym przez przepisy o dozwolonym użytku.

Digitalizacja:

Instytut Matematyczny Polskiej Akademii Nauk

Lokalizacja oryginału:

Centralna Biblioteka Matematyczna Instytutu Matematycznego PAN

Dofinansowane ze środków:

Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata 2010-2014, Priorytet 2. Infrastruktura strefy B + R ; Unia Europejska. Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego

Dostęp:

Temat i słowa kluczowe:

Matematyka -- -- -- -- czasopisma. [KABA] Matematyka -- zastosowania naukowe -- -- -- czasopisma. [KABA]

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

28 mar 2022

Data dodania obiektu:

13 sty 2014

Liczba pobrań / odtworzeń:

32

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://rcin.org.pl./publication/54561

Wyświetl opis w formacie RDF:

Wyświetl opis w formacie RDFa:

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

Zastosowania Matematyki = Applicationes Mathematicae, 1953-1993

Nazwa wydania	Data
Oderfeld, Jan (1908-2010), O wyrywkowym sprawdzaniu przedmiotów przy warunku dwustronnym	28 mar 2022

Obiekty Podobne

A contribution to the sequential analysis

Oderfeld, Jan (1908–2010)

1967-1968

Journal/Article

Grupa statystycznej kontroli jakości Instytutu Matematycznego PAN w 1952 i 1953 r.

Oderfeld, Jan (1908–2010)

1954-1956

Journal/Article

O skupieniu rozkładu

Oderfeld, Jan (1908–2010)

1958

Journal/Article

Rozkład iloczynu potęg wymiernych zmiennych losowych niezależnych

Oderfeld, Jan (1908–2010)

1954

Journal/Article

Największa różnica między rzędnymi charakterystyk planów pojedynczych

Oderfeld, Jan (1908–2010)

1954

Journal/Article

O automatyzacji obliczeń w Statystycznej Kontroli Jakości

Oderfeld, Jan (1908–2010)

1954

Journal/Article

Nomogram wytrzymałości drewna sosnowego

Oderfeld, Jan (1908–2010)

1954

Journal/Article

Statystyczne badanie na cechy skorelowane

Oderfeld, Jan (1908–2010)

1958-1959

Journal/Article

Więcej

Styl cytowania:

iso690-author-date apa modern-language-association chicago-author-date

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji