Advanced search
Advanced search
Advanced search
Advanced search
Advanced search
Polish Journal of Chemistry. Vol 74, no.11 (2000)
Polskie Towarzystwo Chemiczne. ; Polska Akademia Nauk. Komitet Nauk Chemicznych.
Instytut Chemii Fizycznej PAN.
IChF PAN, sygn. P.64 ; click here to follow the link ; IChO PAN, sygn. P.54 Org.
Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony
Instytut Chemii Fizycznej Polskiej Akademii Nauk
Biblioteka Instytutu Chemii Fizycznej PAN
Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata 2010-2014, Priorytet 2. Infrastruktura strefy B + R ; Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata 2010-2014, Priorytet 1. Badania i rozwój nowoczesnych technologii ; Unia Europejska. Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego
Oct 2, 2020
Oct 28, 2013
5169
https://rcin.org.pl./publication/48934
Edition name | Date |
---|---|
Jabłoński, A., Quantitative surface analysis by X-ray photoelectron spectroscopy s. 1533-1566 | Oct 2, 2020 |
Jabłoński, J. Janusz, W. Reszka, M. Sprycha, R. Szczypa, J.
Lesiak. B. Jabłoński. A. Palczewska. W. Kulaszewicz-Bajer. I. Kisliuk. M. U.
Kleinekathöfer, U.; Patil S.H.; Tang, K.T.
Shi, J.M. Liao, D.Z. Cui, J.Z. Jiang, Z.H. Wang, G.L.
Voloshin, Y. Z. Noskov, Y. G. Terekhova, M. I. Kron, T. E.