Badania SEM powierzchni styków z kompozytu WC-Ag po pracy w łuku elektrycznym = SEM study of WC-Ag contact surface after ARC testing - Digital Repository of Scientific Institutes

Skip to main menu
Skip to search engine
Skip to content
Skip to footer

Badania SEM powierzchni styków z kompozytu WC-Ag po pracy w łuku elektrycznym = SEM study of WC-Ag contact surface after ARC testing

Download

Title: Badania SEM powierzchni styków z kompozytu WC-Ag po pracy w łuku elektrycznym = SEM study of WC-Ag contact surface after ARC testing

Creator:

Kaliszuk Kazimierz

Date issued/created:

Resource type:

Subtitle:

Materiały Elektroniczne 2002 T.30 nr 4

Publisher:

Place of publishing:

Description:

55-76 s. : il. 24 cm. ; Bibliogr. s. 74-75

Relation:

Electronic Materials

Volume:

Issue:

Start page:

End page:

Detailed Resource Type:

Format:

application/pdf

Resource Identifier:

oai:rcin.org.pl:17962

Source:

ITME, sygn. dostępny ; click here to follow the link

Language:

Rights:

Rights Reserved - Free Access

Terms of use:

Copyright-protected material. May be used within the limits of statutory user freedoms

Digitizing institution:

Institute of Electronic Materials Technology

Original in:

Library of the Electronic Materials Technology Institute

Projects co-financed by:

Programme Innovative Economy, 2010-2014, Priority Axis 2. R&D infrastructure ; European Union. European Regional Development Fund

Access:

Subject and keywords:

Electronic- materials WC-Ag composite contact surface SEM Electronic - journal - materials

Object collections:

Last modified:

Oct 2, 2020

In our library since:

Dec 5, 2012

Number of object content downloads / hits:

2464

All available object's versions:

https://rcin.org.pl./publication/15564

Show description in RDF format:

Show description in RDFa format:

Show description in OAI-PMH format:

MATERIAŁY ELEKTRONICZNE

Edition name	Date
Kaliszuk Kazimierz, Badania SEM powierzchni styków z kompozytu WC-Ag po pracy w łuku elektrycznym	Oct 2, 2020

Objects Similar

Skaningowy mikroskop elektronowy jako narzędzie badań w technologii materiałów pomocniczych i elementów półprzewodnikowych = Scaning electron microscape in an application to the technological testing of materials and elements used in electronics

Pawłowska Marta

1974

Text

Analiza metod badawczych materiałów proszkowanych stosowanych w technice elektronowej = Analysis of experimental method characterizing powder materials used in electronic technology

Ważyńska Barbara

1984

Text

Wpływ struktury materiału stykowego w-Ag na charakter zniszczeń erozyjnych przy pracy zwarciowej = Influence of structure of composite contact material W-Ag50/50 on erosion demages character during the breaking action under the short-circuit condition

Kaliszuk Kazimierz

1994

Text

Analiza zjawisk zachodzących w kompozytowych materiałach stykowych w łuku elektrycznym = Analysis of the phenomena occuring in composite contact materials in electric arc

Kaliszuk Kazimierz

1990

Text

Erozja łukowa i rezystancja zestykowa silnoprądowych styków z kompozytów WC-Ag = ARC erosion and contact resistance of WC-Ag high-current contacts

Walczuk Eugeniusz

2002

Text

Analiza metod badawczych materiałów proszkowanych stosowanych w technice elektronowej = The measurements of surface acoustic wave properties in LiNbO3

Ważyńska Barbara

1984

Text

Z badań struktury kompozytowych nakładek stykowych = Investigations on composite contact tips structure

Kaliszu, Kazimierz

1990

Text

Badania heteroepitaksjalnych warstw GaAs1-xPx/GaAs za pomocą skaningowej i prześwietleniowej mikroskopii elektronowej = Investigation of heteroepitaxial layers of GaAs1-x Px/GaAs by means of scanning and transmission electron microscopy

Drabik Wojciech

1983

Text

More

Citation style:

iso690-author-date apa modern-language-association chicago-author-date

This page uses 'cookies'. More information