Badanie nieidealnej struktury supersieci (In)GaAs/GaAs(P) za pomocą rentgenowskiej analizy dyfrakcyjnej - Digital Repository of Scientific Institutes

Skip to main menu
Skip to search engine
Skip to content
Skip to footer

Badanie nieidealnej struktury supersieci (In)GaAs/GaAs(P) za pomocą rentgenowskiej analizy dyfrakcyjnej

Download

Title: Badanie nieidealnej struktury supersieci (In)GaAs/GaAs(P) za pomocą rentgenowskiej analizy dyfrakcyjnej

Creator:

Date issued/created:

Resource type:

Subtitle:

Materiały Elektroniczne 1994 T.22 nr 4

Contributor:

Publisher:

Place of publishing:

Description:

34-43 s. : il. ; Bibliogr. s. 43

Relation:

Materiały Elektroniczne

Volume:

Issue:

Start page:

End page:

Detailed Resource Type:

Format:

24 cm. ; application/pdf

Resource Identifier:

oai:rcin.org.pl:14653

Source:

click here to follow the link

Language:

Rights:

Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony

Terms of use:

Zasób chroniony prawem autorskim. Korzystanie dozwolone w zakresie określonym przez przepisy o dozwolonym użytku.

Digitizing institution:

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Original in:

Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych

Projects co-financed by:

Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata 2010-2014, Priorytet 2. Infrastruktura strefy B + R ; Unia Europejska. Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego

Access:

Subject and keywords:

Materiały elektroniczne Elektronika - czasopismo - materiały supersieć InGaAs/GaAsP XRD

Object collections:

Last modified:

Oct 2, 2020

In our library since:

Oct 2, 2012

Number of object content downloads / hits:

656

All available object's versions:

https://rcin.org.pl./publication/14633

Show description in RDF format:

Show description in RDFa format:

Show description in OAI-PMH format:

MATERIAŁY ELEKTRONICZNE

Edition name	Date
Wójcik Marek, Badanie nieidealnej struktury supersieci (In)GaAs/GaAs(P) za pomocą rentgenowskiej analizy dyfrakcyjnej	Oct 2, 2020

Objects Similar

Wpływ obszarów koherentnego rozpraszania w materiałach ze strukturą modulowaną na rentgenowskie widmo dyfrakcyjne. Praca doktorska

Wójcik Marek

1997

Książka/Rozdział

Badanie heterostruktur związków AIIIN zawierających warstwy ultracienkie

Wójcik Marek

2008

Tekst

Badanie odkształceń sieci krystalicznej w implantowanej warstwie epitaksjalnej GaN osadzonej metodą MOCVD na podłożu szafirowym o orientacji [001]

Wójcik Marek

2011

Tekst

Analiza rentgenowskiego widma periodycznej supersieci

Wójcik Marek

1988

Tekst

Analiza możliwości zastosowania wysokorozdzielczej dyfraktomaterii rentgenowskiej do badań parametrów strukturalnych warstw epitaksjalnych i supersieci

Sass Jerzy

1994

Tekst

Analiza profilu rentgenowskiego widma dyfrakcyjnego w przypadku jednowymiarowej modulacji składu chemicznego. Praca doktorska

Gaca Jarosław

1997

Książka/Rozdział

Effect of RF magnetron sputtering conditions on microstructure and X-ray characteristics of yttria-stabilized zirconia thin films = Wpływ warunków sputeringu magnetronowego na mikrostrukturę i charakterystykę rentgenowską cienkich warstw dwutlenku cyrkonu stabilizowanego tlenkiem itru

Tomaszewski Henryk

1996

Tekst

Rentgenowska metoda określania profilu składu chemicznego w heterostrukturach GaN/InGaN otrzymywanych metodą MOCVD na podłożu szafirowym

Wójcik Marek

2012

Tekst

More

Citation style:

iso690-author-date apa modern-language-association chicago-author-date

This page uses 'cookies'. More information