Wykorzystanie wtórnej emisji elektronów, spektroskopii elektronów Augera i dyfrakcji powolnych elektronów do badania składu chemicznego i doskonałości powierzchni monokryształów - Digital Repository of Scientific Institutes

Skip to main menu
Skip to search engine
Skip to content
Skip to footer

Wykorzystanie wtórnej emisji elektronów, spektroskopii elektronów Augera i dyfrakcji powolnych elektronów do badania składu chemicznego i doskonałości powierzchni monokryształów

Download

Title: Wykorzystanie wtórnej emisji elektronów, spektroskopii elektronów Augera i dyfrakcji powolnych elektronów do badania składu chemicznego i doskonałości powierzchni monokryształów

Creator:

Date issued/created:

Resource type:

Subtitle:

Materiały Elektroniczne 1987 nr 1(57)

Contributor:

Chrzanowski Edward ; Mroz Alicja ; Kozioł Czesław

Publisher:

Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"

Place of publishing:

Description:

s. 7-16 : il. ; Bibliogr. s. 16

Relation:

Materiały Elektroniczne

Volume:

Issue:

Start page:

End page:

Detailed Resource Type:

Format:

24 cm. ; application/pdf

Resource Identifier:

oai:rcin.org.pl:9613

Source:

ITME, sygn. dostępny ; click here to follow the link

Language:

Rights:

Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony

Terms of use:

Zasób chroniony prawem autorskim. Korzystanie dozwolone w zakresie określonym przez przepisy o dozwolonym użytku.

Digitizing institution:

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Original in:

Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych

Projects co-financed by:

Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata 2010-2014, Priorytet 2. Infrastruktura strefy B + R ; Unia Europejska. Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego

Access:

Subject and keywords:

Materiały elektroniczne Elektronika - czasopismo - materiały skład chemiczny powierzchnia monokryształu

Object collections:

Last modified:

Oct 2, 2020

In our library since:

Aug 7, 2012

Number of object content downloads / hits:

1637

All available object's versions:

https://rcin.org.pl./publication/12499

Show description in RDF format:

Show description in RDFa format:

Show description in OAI-PMH format:

MATERIAŁY ELEKTRONICZNE

Edition name	Date
Mróz Stefan, Wykorzystanie wtórnej emisji elektronów, spektroskopii elektronów Augera i dyfrakcji powolnych elektronów do badania składu chemicznego i doskonałości powierzchni monokryształów	Oct 2, 2020

Objects Similar

Współczesne metody badania składu chemicznego materiałów elektronicznych - wybrane zagadnienia

Kalinowski Krzysztof

1991

Tekst

Badanie profilu składu chemicznego i lateralnej jednorodności studni kwantowych związków półprzewodnikowych AIIIBV

Gaca Jarosław

2005

Tekst

Spis treści. Vol. 45 No. 2-4 [2017]

Materiały Elektroniczne

2017

Książka/Rozdział

Materiały Elektroniczne

2020

Książka/Rozdział

Spis treści. T.42 Nr 4 [2014]

2014

Książka/Rozdział

Spis treści 2013 T. 41 nr 4

2013

Książka/Rozdział

Covering glass microspheres with Al2O3 or AlN by low-temperature atomic layer deposition

Stankiewicz Rafał Piątkowska Anna

2018

Książka/Rozdział

Vol. 46 No. 1-4 [2018]

Materiały Elektroniczne

2018.

Książka/Rozdział

More

Citation style:

iso690-author-date apa modern-language-association chicago-author-date

This page uses 'cookies'. More information