Wyszukiwanie zaawansowane
Wyszukiwanie zaawansowane
Wyszukiwanie zaawansowane
Wyszukiwanie zaawansowane
Wyszukiwanie zaawansowane
Materiały Elektroniczne 1986 nr 2(54)
Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
s. 13-20 : il. ; Bibliogr. s. 20
ITME, sygn. dostępny ; kliknij tutaj, żeby przejść
Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych
Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata 2010-2014, Priorytet 2. Infrastruktura strefy B + R ; Unia Europejska. Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego
2 paź 2020
6 sie 2012
433
https://rcin.org.pl./publication/12482
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Jabłoński Ryszard, Badanie defektów typu 'antisite" w kryształach AIIIBV metodą EPR | 2 paź 2020 |
Piga Witold
Pawłowski Mariusz
Jabłoński Ryszrad