Filtry
  • Typ zasobu
  • Kolekcje
  • Typ obiektu
  • Dostępność obiektu
  • Data wydania/powstania Data związana z konkretnym wydarzeniem cyklu życia zasobu.
  • Dostęp
Projekty RCIN i OZwRCIN

Szukana fraza: [Tytuł = "Wysokorezystywne wzorce do profilu rezystywności krzemowych warstw epitaksjalnych metodą oporności rozpływu w styku punktowym = High resistivity standards for measurement of resistivity profile in silicon epitaxial layers by spreading resistance method"]

Wyników: 1

Obiektów na stronie:

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji