Tytuł:

Wyznaczanie koncentracji centrów defektowych w półprzewodnikach wysokorezystywnych na powstawie prążków widmowych Laplace'a otrzymywanych w wyniku analizy relaksacyjnych przebiegów fotoprądu

Inny tytuł:

Materiały Elektroniczne 2012 T.40 nr 1

Twórca:

Kozłowski Roman

Współtwórca:

Kamiński Paweł ; Żelazko Jarosław

Wydawca:

ITME

Miejsce wydania:

Warszawa

Data wydania/powstania:

2012

Opis:

19-33 s. : il. 30 cm. ; Bibliogr. s. 33

Temat i słowa kluczowe:

Materiały elektroniczne ; Elektronika - czasopismo - materiały ; HRPITS ; radiacyjne centrum defektowe ; sianokosy ; procedura Laplace'a

Czasopismo/Seria/cykl:

Materiały Elektroniczne

Tom:

40

Zeszyt:

1

Strona pocz.:

19

Strona końc.:

33

Typ zasobu:

Tekst

Szczegółowy typ zasobu:

Artykuł

Format:

application/pdf

Źródło:

ITME, sygn. dostępny ; kliknij tutaj, żeby przejść

Język:

pol

Prawa:

Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony

Zasady wykorzystania:

Zasób chroniony prawem autorskim. Korzystanie dozwolone w zakresie określonym przez przepisy o dozwolonym użytku.

Digitalizacja:

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Lokalizacja oryginału:

Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych

Dofinansowane ze środków:

Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata 2010-2014, Priorytet 2. Infrastruktura strefy B + R ; Unia Europejska. Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego

Dostęp:

Otwarty