Język metadanych
Proceedings of ITME 1986 z. 18
Twórca: Współtwórca: Wydawca: Miejsce wydania: Data wydania/powstania: Opis:40 s. : il. 24 cm. ; Biboliogr. s. 40
Temat i słowa kluczowe:Electronic - journal - material ; Electronic materials ; residual stress ; Cz Si
Czasopismo/Seria/cykl: Zeszyt: Strona pocz.: Strona końc.: Typ zasobu: Szczegółowy typ zasobu: Format: Źródło:ITME, sygn. dostępny ; kliknij tutaj, żeby przejść
Język: Prawa: Zasady wykorzystania:Copyright-protected material. May be used within the limits of statutory user freedoms
Digitalizacja:Institute of Electronic Materials Technology
Lokalizacja oryginału:Library of the Institute of Electronic Materials Technology
Dofinansowane ze środków:Programme Innovative Economy, 2010-2014, Priority Axis 2. R&D infrastructure ; European Union. European Regional Development Fund
Dostęp: