Język metadanych
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych. Wyd.
Wydawca: Miejsce wydania: Data wydania/powstania: Opis:References: p.: 15-16 ; p.: 11-16, il. 30 cm.
Temat i słowa kluczowe:Graphene ; Graphene characterization ; Low-kV scanning electron microscopy
Bibliografia:15-16
Czasopismo/Seria/cykl:Materiały Elektroniczne - Electronic Materials
Tom: Zeszyt: Strona pocz.: Strona końc.: Typ zasobu: Szczegółowy typ zasobu: Format: Źródło: Język: Język streszczenia: Prawa: Zasady wykorzystania:Copyright-protected material. May be used within the limits of statutory user freedoms
Digitalizacja:Institute of Electronic Materials Technology
Lokalizacja oryginału:Library of the Electronic Materials Technology Institute
Dofinansowane ze środków:European Union. European Regional Development Fund ; Programme Innovative Economy, 2010-2014, Priority Axis 2. R&D infrastructure
Dostęp: