Język metadanych
Materiały Elektroniczne T. 43 Nr 1
Twórca: Współtwórca:Malinowska Agnieszka ; Wierzchowski Wojciech ; Kisielewski Jarosław ; Świrkowicz Marek ; Szyrski Włodzimierz ; Romaniec Magdalena ; Mazur Krystyna
Wydawca: Miejsce wydania: Data wydania/powstania: Opis:Bibliogr. s.: 38-39 ; s. 29-39 il., 30 cm.
Temat i słowa kluczowe:topografia rentgenowska ; MgAl2O4 ; ScAlMgO4 ; crystal lattice defects ; Czochralski method
Bibliografia:38-39
Czasopismo/Seria/cykl:Materiały Elektroniczne T. 43 Nr 1 2015
Tom: Zeszyt: Strona pocz.: Strona końc.: Typ zasobu: Szczegółowy typ zasobu: Format: Źródło: Język: Prawa:Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony
Zasady wykorzystania: Digitalizacja:Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Lokalizacja oryginału:Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych
Dofinansowane ze środków:Unia Europejska. Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego ; Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata 2010-2014, Priorytet 2. Infrastruktura strefy B + R
Dostęp: