Title:

Rentgenodyfrakcyjna analiza odkształceń koherentnych w półprzewodnikowych strukturach warstwach AIIIBV. Praca doktorska

Subtitle:

Prace doktorskie

Creator:

Sass Jerzy

Contributor:

Pajączkowska Anna : Promotor.

Publisher:

ITME

Place of publishing:

Warszawa

Date issued/created:

1998

Description:

92 s. : il. 24 cm. ; Bibliogr. s. 89-92

Type of object:

Książka/Rozdział

Subject and Keywords:

Elektronika - materiały ; Materiały elektroniczne ; dyfrakcja rentgenowska ; warstwa epitaksjalna ; AIIIBV ; dyslokacja niedopadowania

Relation:

Prace doktorskie

Start page:

1

End page:

92

Resource type:

Tekst

Detailed Resource Type:

Praca doktorska

Format:

application/pdf

Source:

ITME, sygn. P/1676 ; click here to follow the link

Language:

pol

Rights:

Prawa zastrzeżone - dostęp ograniczony

Terms of use:

Zasób chroniony prawem autorskim. Dostęp możliwy tylko dla czytelników upoważnionych przez Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych.

Digitizing institution:

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Original in:

Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych

Projects co-financed by:

Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata 2010-2014, Priorytet 2. Infrastruktura strefy B + R ; Unia Europejska. Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego

Access:

Zamknięty