Metadata language
144 s.: il. 24 cm. ; Bibliogr. s. 132-144
Type of object: Subject and Keywords:Elektronika - materiały ; Materiały elektroniczne ; GdCoB ; metoda Czochralskiego ; własności spektroskopowe ; defekt strukturalny
Relation: Start page: End page: Resource type: Detailed Resource Type: Format: Source:ITME, sygn. P/2217 ; click here to follow the link
Language: Rights:Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony
Terms of use: Digitizing institution:Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Original in:Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych
Projects co-financed by:Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata 2010-2014, Priorytet 2. Infrastruktura strefy B + R ; Unia Europejska. Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego
Access: