Tytuł:

Badania realnej struktury monokryształów i warstw epitaksjalnych z zastosowaniem promieniowania synchrotronowego i symulacji obrazów dyfrakcyjnych

Inny tytuł:

Prace ITME 1994 z. 44

Twórca:

Wierzchowski Wojciech

Wydawca:

ITME

Miejsce wydania:

Warszawa

Data wydania/powstania:

1994

Opis:

111 s. : il. 24 cm. ; Bibliogr. s. 95-108

Temat i słowa kluczowe:

Materiały elektroniczne ; Elektronika - czasopismo - materialy ; AIIIBV ; Si ; topografia synchrotronowa

Czasopismo/Seria/cykl:

Prace ITME

Zeszyt:

44

Strona pocz.:

3

Strona końc.:

111

Typ zasobu:

Tekst

Szczegółowy typ zasobu:

Artykuł

Format:

application/pdf

Źródło:

ITME, sygn. dostępny ; kliknij tutaj, żeby przejść

Język:

pol

Prawa:

Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony

Zasady wykorzystania:

Zasób chroniony prawem autorskim. Korzystanie dozwolone w zakresie określonym przez przepisy o dozwolonym użytku.

Digitalizacja:

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Lokalizacja oryginału:

Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych

Dofinansowane ze środków:

Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata 2010-2014, Priorytet 2. Infrastruktura strefy B + R ; Unia Europejska. Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego

Dostęp:

Otwarty