Title:

Wpływ szerokości pasma przenoszenia przetwornika konduktancyjno-napięciowego na dokładność wyznaczania parametrów centrów defektowych metodą niestacjonarnej spektroskopii fotoprądowej =

Subtitle:

Materiały Elektroniczne 2004 T.32 nr 1/4

Creator:

Pawłowski Michał

Publisher:

ITME

Place of publishing:

Warszawa

Date issued/created:

2004

Description:

23-35 s. : il. 24 cm. ; Bibliogr. s. 34-35

Subject and Keywords:

Electronic - journal - materials ; Electronic - materials ; defect centre ; PITS

Relation:

Electronic Materials

Volume:

32

Issue:

1/4

Start page:

23

End page:

35

Resource type:

Text

Detailed Resource Type:

Article

Format:

application/pdf

Source:

ITME, sygn. dostępny ; click here to follow the link

Language:

pol

Rights:

Rights Reserved - Free Access

Terms of use:

Copyright-protected material. May be used within the limits of statutory user freedoms

Digitizing institution:

Institute of Electronic Materials Technology

Original in:

Library of the Electronic Materials Technology Institute

Projects co-financed by:

Programme Innovative Economy, 2010-2014, Priority Axis 2. R&D infrastructure ; European Union. European Regional Development Fund

Access:

Open