Title:

HRXRD study of ZnO single crystals bombarded with Ar ions

Subtitle:

Badanie metodamia wysokorozdzielczej dyfraktometrii rentgenowskiej monokryształów ZnO bombardowanych jonami Ar

Creator:

Wójcik Marek

Contributor:

Gaca Jarosław ; Caban Piotr ; Turos Andrzej

Publisher:

ITME

Place of publishing:

Warszawa

Date issued/created:

2016

Description:

Bibliogr. s.: 15-16 ; s.: 9-16, il., 30 cm.

Subject and Keywords:

HRXRD ; ZnO monocrystal ; Ion implantation ; Radiation defect analysis ; Wysokorozdzielcza dyfrakcja rentgenowska ; Monokryształ ZnO ; Implantacja jonów ; Analiza defektów radiacyjnych

References:

15-16

Relation:

Materiały Elektroniczne

Volume:

44

Issue:

3

Start page:

9

End page:

16

Resource type:

Tekst

Detailed Resource Type:

Artykuł

Format:

A4 ; application/pdf

Source:

click here to follow the link

Language:

eng

Rights:

Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony

Terms of use:

Zasób chroniony prawem autorskim. Korzystanie dozwolone w zakresie określonym przez przepisy o dozwolonym użytku.

Digitizing institution:

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Original in:

Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych

Projects co-financed by:

Ministra Nauki i Szkolnictwa Wyższego ; Działalność upowszechniająca naukę (DUN)

Access:

Otwarty