Title:

Analiza odkształceń sieci krystalicznej w sąsiedztwie dyslokacji

Subtitle:

Materiały Elektroniczne. T. 43 Nr 2

Creator:

Jóźwik Przemysław

Contributor:

Turos Andrzej ; Jagielski Jacek ; Natarajan Sathish ; Nowicki Lech

Publisher:

ITME

Place of publishing:

Warszawa

Date issued/created:

2015

Description:

Bibliog. s.: 26 ; s.: 18-26 il. 30 cm.

Subject and Keywords:

analiza defektów złożonych ; kanałowanie jonów ; symulacje Monte Carlo

Relation:

Materiały Elektroniczne T. 43 Nr 2 2015

Volume:

43

Issue:

2

Start page:

18

End page:

26

Resource type:

Tekst

Detailed Resource Type:

Artykuł

Format:

application/pdf

Source:

click here to follow the link

Language:

pol

Language of abstract:

eng

Rights:

Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony

Terms of use:

Zasób chroniony prawem autorskim. Korzystanie dozwolone w zakresie określonym przez przepisy o dozwolonym użytku.

Digitizing institution:

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Original in:

Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych

Projects co-financed by:

Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata 2010-2014, Priorytet 2. Infrastruktura strefy B + R ; Unia Europejska. Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego

Access:

Otwarty