Tytuł:

Zastosowanie statystycznych metod planowania doświadczeń ekstremalnych w spektralnej analizie emisyjnej

Inny tytuł:

Materiały Elektroniczne 1978 nr4(24)

Twórca:

Sokołowska Wanda

Wydawca:

Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"

Miejsce wydania:

Warszawa

Data wydania/powstania:

1978

Opis:

Bibliogr. s. [20] ; s. 7-[20] : il. ; 24 cm

Temat i słowa kluczowe:

Elektronika - czasopismo - materialy ; Materiały elektroniczne ; metoda statystyczna ; spektralna analiza emisyjna

Czasopismo/Seria/cykl:

Materiały Elektoniczne

Tom:

24

Zeszyt:

4

Strona pocz.:

7

Strona końc.:

20

Typ zasobu:

Tekst

Szczegółowy typ zasobu:

Artykuł

Format:

application/pdf

Źródło:

ITME, sygn. dostępny ; kliknij tutaj, żeby przejść

Język:

pol

Prawa:

Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony

Zasady wykorzystania:

Zasób chroniony prawem autorskim. Korzystanie dozwolone w zakresie określonym przez przepisy o dozwolonym użytku.

Digitalizacja:

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Lokalizacja oryginału:

Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych

Dofinansowane ze środków:

Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata 2010-2014, Priorytet 2. Infrastruktura strefy B + R ; Unia Europejska. Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego

Dostęp:

Otwarty