Tytuł:

Niestacjonarna spektroskopia fotoprądowa o dużej rozdzielczości jako nowa metoda badania centrów defektowych w półprzewodnikach wysokorezystywnych. Rozprawa doktorska

Twórca:

Kozłowski Roman

Współtwórca:

Kamiński, Paweł : Promotor.

Wydawca:

ITME

Miejsce wydania:

Warszawa

Data wydania/powstania:

2001

Opis:

186 s. : il. ; 30 cm. ; Bibliogr. s. 127-131

Temat i słowa kluczowe:

Elektronika - materiały ; Materiały elektroniczne ; HRPITS ; SI GaAs ; SI Si ; SI INP ; cntrum defektowe ; poziom głęboki

Czasopismo/Seria/cykl:

Prace doktorskie

Typ zasobu:

Tekst

Szczegółowy typ zasobu:

Praca doktorska

Format:

application/pdf

Źródło:

ITME, sygn. P/1932 ; kliknij tutaj, żeby przejść

Język:

pol

Prawa:

Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony

Zasady wykorzystania:

Zasób chroniony prawem autorskim. Korzystanie dozwolone w zakresie określonym przez przepisy o dozwolonym użytku.

Digitalizacja:

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Lokalizacja oryginału:

Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych

Dofinansowane ze środków:

Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata 2010-2014, Priorytet 2. Infrastruktura strefy B + R ; Unia Europejska. Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego

Dostęp:

Otwarty