Metadata language
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Place of publishing: Date issued/created: Description:126 s. : il., 30 cm. ; Bibliogr. s. 118-126
Type of object: Subject and Keywords:Elektronika - materiały ; Materiały elektroniczne ; SiC ; centrum defektowe ; płytka domieszka
Relation: Start page: End page: Resource type: Detailed Resource Type: Format: Source:ITME, sygn. P/2328 ; click here to follow the link
Language: Rights:Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony
Terms of use: Digitizing institution:Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Original in:Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych
Projects co-financed by:Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata 2010-2014, Priorytet 2. Infrastruktura strefy B + R ; Unia Europejska. Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego
Access: