Title:

Mikroanaliza rentgenowska cienkich warstw

Subtitle:

Prace ITME 1983 z. 8

Creator:

Sikorski Krzysztof

Contributor:

Szummer Krzysztof

Publisher:

Wydaw. Przem. Masz. "WEMA"

Place of publishing:

Warszawa

Date issued/created:

1983

Description:

56 s. : il. 24 cm. ; Bibliogr. s. 52-55

Subject and Keywords:

Elektronika - czasopismo - materiały ; Materiały elektroniczne ; warstwa cienka ; mikroanaliza rentgenowska

Relation:

Prace ITME

Issue:

8

Start page:

3

End page:

56

Resource type:

Tekst

Detailed Resource Type:

Artykuł

Format:

application/pdf

Source:

ITME, sygn. dostępny ; click here to follow the link

Language:

pol

Rights:

Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony

Terms of use:

Zasób chroniony prawem autorskim. Korzystanie dozwolone w zakresie określonym przez przepisy o dozwolonym użytku.

Digitizing institution:

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Original in:

Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych

Projects co-financed by:

Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata 2010-2014, Priorytet 2. Infrastruktura strefy B + R ; Unia Europejska. Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego

Access:

Otwarty