Język metadanych
Mikroanaliza rentgenowska cienkich warstw
Inny tytuł: Twórca: Współtwórca: Wydawca: Miejsce wydania: Data wydania/powstania: Opis:56 s. : il. 24 cm. ; Bibliogr. s. 52-55
Temat i słowa kluczowe:Elektronika - czasopismo - materiały ; Materiały elektroniczne ; warstwa cienka ; mikroanaliza rentgenowska
Czasopismo/Seria/cykl: Zeszyt: Strona pocz.: Strona końc.: Typ zasobu: Szczegółowy typ zasobu: Format: Źródło:ITME, sygn. dostępny ; kliknij tutaj, żeby przejść
Język: Prawa:Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony
Zasady wykorzystania: Digitalizacja:Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Lokalizacja oryginału:Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych
Dofinansowane ze środków:Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata 2010-2014, Priorytet 2. Infrastruktura strefy B + R ; Unia Europejska. Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego
Dostęp: