Title:

Analiza możliwości zastosowania wysokorozdzielczej dyfraktomaterii rentgenowskiej do badań parametrów strukturalnych warstw epitaksjalnych i supersieci

Subtitle:

Materiały Elektroniczne 1994 T.22 nr 4

Creator:

Sass Jerzy

Publisher:

ITME

Place of publishing:

Warszawa

Date issued/created:

1994

Description:

19-33 s. : il. ; Bibliogr. s. 32-33

Subject and Keywords:

Materiały elektroniczne ; Elektronika - czasopismo - materiały ; HR XRD ; supersieć półprzewodnikowa ; warstwa epitaksjalna

Relation:

Materiały Elektroniczne

Volume:

22

Issue:

4

Start page:

19

End page:

33

Resource type:

Tekst

Detailed Resource Type:

Artykuł

Format:

24 cm. ; application/pdf

Source:

ITME, sygn. dostępny ; click here to follow the link

Language:

pol

Rights:

Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony

Terms of use:

Zasób chroniony prawem autorskim. Korzystanie dozwolone w zakresie określonym przez przepisy o dozwolonym użytku.

Digitizing institution:

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Original in:

Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych

Projects co-financed by:

Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata 2010-2014, Priorytet 2. Infrastruktura strefy B + R ; Unia Europejska. Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego

Access:

Otwarty