Title:

Numeryczne metody rozpłatania rentgenowskiego widma dyfrakcyjnego. Zastosowanie do badania supersieci półprzewodnikowych

Subtitle:

Materiały Elektroniczne 1992 T.20 nr 3

Creator:

Gaca Jarosław

Contributor:

Sass Jerzy ; Wójcik Marek

Publisher:

ITME

Place of publishing:

Warszawa

Date issued/created:

1992

Description:

47-63 s. : il. ; Bibliogr. s. 62-63

Subject and Keywords:

Materiały elektroniczne ; Elektronika - czasopismo - materiały ; supersieć półprzewodnikowa ; rentgenowskie widmo dyfrakcyjne

Relation:

Materiały Elektroniczne

Volume:

20

Issue:

3

Start page:

47

End page:

63

Resource type:

Tekst

Detailed Resource Type:

Artykuł

Format:

24 cm. ; application/pdf

Source:

click here to follow the link

Language:

pol

Rights:

Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony

Terms of use:

Zasób chroniony prawem autorskim. Korzystanie dozwolone w zakresie określonym przez przepisy o dozwolonym użytku.

Digitizing institution:

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Original in:

Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych

Projects co-financed by:

Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata 2010-2014, Priorytet 2. Infrastruktura strefy B + R ; Unia Europejska. Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego

Access:

Otwarty