Title:

Pomiar warstw epitaksjalnych metoda C-V przy użyciu sondy rtęciowej

Subtitle:

Materiały Elektroniczne1983 nr 4(44)

Creator:

Brzozowski Andrzej

Contributor:

Szymkiewicz Andrzej

Publisher:

Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"

Place of publishing:

Warszawa

Date issued/created:

1984

Description:

s. 36-57 : il. ; Bibliogr. s. 57

Subject and Keywords:

Elektronika - czasopismo - materiały ; Materiały elektroniczne ; złącze prostujące metal-półprzewodnik ; warstwa epitaksjalna ; metoda C-V

Relation:

Materiały Elektroniczne

Volume:

44

Issue:

4

Start page:

36

End page:

57

Resource type:

Tekst

Detailed Resource Type:

Artykuł

Format:

24 cm. ; application/pdf

Source:

ITME, sygn. dostępny ; click here to follow the link

Language:

pol

Rights:

Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony

Terms of use:

Zasób chroniony prawem autorskim. Korzystanie dozwolone w zakresie określonym przez przepisy o dozwolonym użytku.

Digitizing institution:

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Original in:

Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych

Projects co-financed by:

Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata 2010-2014, Priorytet 2. Infrastruktura strefy B + R ; Unia Europejska. Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego

Access:

Otwarty