Tytuł:

Metodyka badania warstw epitaksjalnych krzemu za pomocą transmisyjnego mikroskopu elektronowego z zastosowaniem map linii Kikuchi

Inny tytuł:

Materiały Elektroniczne 1978 nr 2(22)

Twórca:

Rupniewski Wojciech

Współtwórca:

Wójcik Marek

Wydawca:

Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"

Miejsce wydania:

Warszawa

Data wydania/powstania:

1979

Opis:

s. 20-30 : il. ; Bibliogr. s. 30

Temat i słowa kluczowe:

Materiały elektroniczne ; Elektronika - czasopismo - materiały ; Si ; TEM

Czasopismo/Seria/cykl:

Materiały Elektroniczne

Tom:

22

Zeszyt:

2

Strona pocz.:

20

Strona końc.:

30

Typ zasobu:

Tekst

Szczegółowy typ zasobu:

Artykuł

Format:

24 cm. ; application/pdf

Źródło:

ITME, sygn. dostępny ; kliknij tutaj, żeby przejść

Język:

pol

Prawa:

Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony

Zasady wykorzystania:

Zasób chroniony prawem autorskim. Korzystanie dozwolone w zakresie określonym przez przepisy o dozwolonym użytku.

Digitalizacja:

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Lokalizacja oryginału:

Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych

Dofinansowane ze środków:

Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata 2010-2014, Priorytet 2. Infrastruktura strefy B + R ; Unia Europejska. Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego

Dostęp:

Otwarty