Metadata language
Wady krystalograficzne i przebicia mikroplazmowe w epitaksjalnych złączach p-n
Subtitle:Materiały Elektroniczne 1975 nr 3(11)
Creator: Contributor:Safonow W.A. ; Turczaninow J.N.
Publisher:Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Place of publishing: Date issued/created: Description:s.7-11 : il. ; Bibliogr. s. 11
Subject and Keywords:Elektronika - czasopismo - materialy ; Materiały elektroniczne ; epitaksjalne złącze p-n ; defekt strukturalny ; przebicie mikroplazmowe
Relation: Volume: Issue: Start page: End page: Resource type: Detailed Resource Type: Format: Source:ITME, sygn. ; click here to follow the link
Language: Rights:Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony
Terms of use: Digitizing institution:Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Original in:Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych
Projects co-financed by:Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata 2010-2014, Priorytet 2. Infrastruktura strefy B + R ; Unia Europejska. Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego
Access: