@misc{Kozubal_Michał_Badanie_2006,
 author={Kozubal Michał},
 volume={34},
 number={1/2},
 copyright={Rights Reserved - Free Access},
 journal={Electronic Materials},
 address={Warszawa},
 howpublished={online},
 year={2006},
 publisher={ITME},
 language={pol},
 title={Badanie głębokich centrów defektowych w warstwach epitaksjalnych GaN:si metoda niestacjonarnej spektroskopii pojemnościowej (DLTS)},
 type={Text},
 URL={http://rcin.org.pl./Content/5382/PDF/WA901_15638_M1-r2006-t34-z1-2_Mater-Elektroniczne_Kozubal.pdf},
 keywords={Electronic - materials, Electronic - journal - materials, GaN:Si, DLTS},
}