@misc{Sass_Jerzy_Rentgenodyfrakcyjna_2000,
 author={Sass Jerzy},
 number={54},
 copyright={Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony},
 journal={Prace ITME},
 address={Warszawa},
 howpublished={online},
 year={2000},
 publisher={ITME},
 language={pol},
 type={Tekst},
 title={Rentgenodyfrakcyjna analiza odkształceń koherentnych w półprzewodnikowych strukturach warstwach AIIIBV},
 URL={http://rcin.org.pl./Content/36026/PDF/WA901_18823_r2000-z54_Prace-ITME-Sass_i.pdf},
 keywords={Materiały elektroniczne, Elektronika - czasopismo - materiały, odkształcenie koherentne, heterostruktura AIIIBV, analiza rentgenodyfrakcyjna},
}