@misc{Wierzchowski_Wojciech_Odwzorowywanie_1984,
 author={Wierzchowski Wojciech},
 number={11},
 copyright={Rights Reserved - Free Access},
 address={Warszawa},
 journal={Proceedings of ITME},
 howpublished={online},
 year={1984},
 publisher={Wydaw. Przem. Masz. "WEMA"},
 language={pol},
 type={Text},
 title={Odwzorowywanie dyslokacji w krzemowych warstwach epitaksjalnych metodami odbiciowymi rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej = The images of dislocations in silocon epitaxial layers obtained with help of X-ray diffraction topographic methods},
 URL={http://rcin.org.pl./Content/30971/PDF/WA901_17836_r1984-z11_Prace-ITME-Wierz_i.pdf},
 keywords={Electronic - journal - material, Electronic materials, dislocation, Si epitaxial layer, X-ray diffraction topography},
}